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科研机构
半导体研究所 [1]
内容类型
期刊论文 [1]
发表日期
1996 [1]
学科主题
光电子学 [1]
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X-ray-diffraction study of quasipseudomorphic ErSi1.7 layers formed by channeled ion-beam synthesis
期刊论文
journal of applied physics, 1996, 卷号: 80, 期号: 10, 页码: 5713-5717
Wu MF
;
Vantomme A
;
Pattyn H
;
Langouche G
;
Yang QQ
;
Wang QM
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提交时间:2010/11/17
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