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Effects of total ionizing dose on single event effect sensitivity of FRAMs
期刊论文
MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2019, 卷号: 95, 页码: 1-7
作者:
Ji, Qinggang
;
Liu, Jie
;
Li, Dongqing
;
Liu, Tianqi
;
Ye, Bing
收藏
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浏览/下载:54/0
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提交时间:2019/11/10
Ferroelectric random access memory
Total ionizing dose
Single event effect
TCAD simulation
Lkb1 deletion in periosteal mesenchymal progenitors induces osteogenic tumors through mTORC1 activation.
期刊论文
The Journal of clinical investigation, 2019, 卷号: Vol.130
作者:
Yujiao Han
;
Heng Feng
;
Jun Sun
;
Xiaoting Liang
;
Zhuo Wang
收藏
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浏览/下载:8/0
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提交时间:2019/12/17
Bone Biology
Bone disease
Drug therapy
Oncology
Osteoclast/osteoblast biology
Anomalous annealing of floating gate errors due to heavy ion irradiation
期刊论文
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, 2018, 卷号: 418, 页码: 80-86
作者:
Hou, Mingdong
;
Zhao, Peixiong
;
Luo, Jie
;
Ji, Qinggang
;
Ye, Bing
收藏
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浏览/下载:55/0
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提交时间:2018/05/31
Annealing
Flash memories
Heavy ions
Multiple cell upsets
Radiation effects
A comparison of heavy ion induced single event upset susceptibility in unhardened 6T/SRAM and hardened ADE/SRAM
会议论文
作者:
Yan, Weiwei
;
Wang, Bin
;
Zeng, Chuanbin
;
Geng, Chao
;
Liu, Tianqi
收藏
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浏览/下载:40/0
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提交时间:2018/08/20
Heavy ion irradiation
Single event upset
Active delay element
SRAM cell
Radiation hardened
Silicon-on-insulator
A comparison of heavy ion induced single event upset susceptibility in unhardened 6T/SRAM and hardened ADE/SRAM
期刊论文
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, 2017, 卷号: 406, 页码: 437-442
作者:
Wang, Bin
;
Zeng, Chuanbin
;
Geng, Chao
;
Liu, Tianqi
;
Khan, Maaz
收藏
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浏览/下载:35/0
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提交时间:2018/05/31
Heavy ion irradiation
Single event upset
Active delay element
SRAM cell
Radiation hardened
Silicon-on-insulator
Direct folding simulation of helical proteins using an effective polarizable bond force fieldSCI被引量:SCI原文链接
期刊论文
2017, 卷号: 19, 期号: 23, 页码: 15273-15284
作者:
Duan, Lili[1,2]
;
Zhu, Tong[2]
;
Ji, Changge[2,3]
;
Zhang, Qinggang
;
Zhang, John Z. H.[2,3,4]
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浏览/下载:7/0
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提交时间:2019/12/28
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