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期刊论文 [3]
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2019 [1]
2016 [2]
2015 [2]
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Heavy ion-induced single event effects in active pixel sensor array
期刊论文
SOLID-STATE ELECTRONICS, 2019, 卷号: 152, 期号: 2, 页码: 93-99
作者:
Cai, YL (Cai, Yu-Long)[ 1,2,3 ]
;
Guo, Q (Guo, Qi)[ 1,2 ]
;
Li, YD (Li, Yu-Dong)[ 1,2 ]
;
Wen, L (Wen, Lin)[ 1,2 ]
;
Zhou, D (Zhou, Dong)[ 1,2 ]
收藏
  |  
浏览/下载:129/0
  |  
提交时间:2019/01/03
CMOS active pixel sensor (APS)
SEE
Heavy ion
A wafer-level characterization method of ESD protection circuits for both component-level and system-level applications
其他
2016-01-01
Wang, Yuan
;
Lu, Guangyi
;
Zhang, Xing
收藏
  |  
浏览/下载:3/0
  |  
提交时间:2017/12/03
A Wafer-level Characterization Method of ESD Protection Circuits for Both Component-level and System-level Applications
其他
2016-01-01
Wang, Yuan
;
Lu, Guangyi
;
Zhang, Xing
收藏
  |  
浏览/下载:3/0
  |  
提交时间:2017/12/03
Electrostatic discharge (ESD)
detection circuit
triggering criteria
transient-induced latch-up (TLU)
CLAMP CIRCUITS
DESIGN
Comparative research on "high currents" induced by single event latch-up and transient-induced latch-up
期刊论文
Chinese physics b, 2015, 卷号: 24, 期号: 4, 页码: 6
作者:
Chen Rui
;
Han Jian-Wei
;
Zheng Han-Sheng
;
Yu Yong-Tao
;
Shangguang Shi-Peng
收藏
  |  
浏览/下载:20/0
  |  
提交时间:2019/05/10
Single event latch-up
Transient-induced latch-up
Electro-static discharge
Pulsed laser
Comparative research on "high currents" induced by single event latch-up and transient-induced latch-up
期刊论文
CHINESE PHYSICS B, 2015, 卷号: 24, 期号: 4, 页码: 46103
作者:
Chen Rui
;
Han Jian-Wei
;
Zheng Han-Sheng
;
Yu Yong-Tao
;
Shangguang Shi-Peng
收藏
  |  
浏览/下载:32/0
  |  
提交时间:2015/09/28
single event latch-up
transient-induced latch-up
electro-static discharge
pulsed laser
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