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浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Accelerated Aging in Analog and Digital Circuits With Feedback 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND MATERIALS RELIABILITY, 2015 Sutaria, Ketul B.; Mohanty, Abinash; Wang, Runsheng; Huang, Ru; Cao, Yu 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2017/12/03 Circuit aging  bias runaway  BTI  CHC  DVS  aging models and simulation framework  BIAS TEMPERATURE INSTABILITY  HOT-CARRIER DEGRADATION  DEEP-SUBMICRON NMOSFETS  E-E SCATTERING  NBTI  RELIABILITY  SIMULATION  DESIGN  CROSS  MODEL   Diagnosing bias runaway in analog/mixed signal circuits 其他 2014-01-01 Sutaria, Ketul B.; Ren, Pengpeng; Ramkumar, Athul; Zhu, Rongjun; Feng, Xixiang; Wang, Runsheng; Huang, Ru; Cao, Yu 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2015/11/13 全球化时代的法律帝国主义与“法治”话语霸权 期刊论文 2013 魏磊杰 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2016/05/17 全球化  新帝国主义  现代性话语  法治话语霸权