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Study on copper protrusion of through-silicon via in a 3-D integrated circuit
期刊论文
MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING A-STRUCTURAL MATERIALS PROPERTIES MICROSTRUCTURE AND PROCESSING, 2019, 卷号: 755, 页码: 66-74
作者:
Song M
;
Wei ZQ
;
Wang BY
;
Chen L
;
Chen L
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浏览/下载:53/0
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提交时间:2019/11/27
Through-silicon via
Cu protrusion
Annealing temperature
Electron backscatter diffraction
Finite element analysis
Assembly of 2-dimensional matrix of optical transmitter or receiver based on wet etched silicon interposer
专利
专利号: WO2019048653A1, 申请日期: 2019-03-14, 公开日期: 2019-03-14
作者:
LI, CHENHUI
;
RAZ, ODED
;
STABILE, RIPALTA
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浏览/下载:11/0
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提交时间:2019/12/30
Improved Reliability of Planar Power Interconnect With Ceramic-Based Structure
期刊论文
IEEE JOURNAL OF EMERGING AND SELECTED TOPICS IN POWER ELECTRONICS, 2018, 卷号: 6, 期号: 1, 页码: 175, 187
作者:
Zhang, Hui
;
Li, Jianfeng
;
Dai, Jingru
;
Corfield, Martin
;
Liu, Xuejian
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浏览/下载:31/0
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提交时间:2018/12/28
Electronic packaging
finite-element (FE) method
material reliability
planar power module
power cycling
X-ray computation tomography
Investigation of microstructure and properties of ultrathin graded ZrNx self-assembled diffusion barrier in deep nano-vias prepared by plasma ion immersion implantation.
期刊论文
APPLIED SURFACE SCIENCE, 2018
作者:
Zou, Jianxiong
;
Liu, Bo
;
Lin, Liwei
;
Lu, Yuanfu
;
Dong, Yuming
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浏览/下载:40/0
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提交时间:2019/01/31
圆柱形硅通孔的二维解析电容模型
期刊论文
2016, 2016
张青青
;
喻文健
;
骆祖莹
;
ZHANG Qing-Qing
;
YU Wen-Jian
;
LUO Zu-Ying
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浏览/下载:1/0
Measurement-based electrical characterization of through silicon vias and transmission lines for 3D integration
期刊论文
MICROELECTRONIC ENGINEERING, 2016
Sun, Xin
;
Fang, Runiu
;
Zhu, Yunhui
;
Zhong, Xiao
;
Bian, Yuan
;
Guan, Yong
;
Miao, Min
;
Chen, Jing
;
Jin, Yufeng
收藏
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浏览/下载:2/0
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提交时间:2017/12/03
3D integration
Through silicon via (TSV)
Transmission line
Electrical measurement
RF characterization
THROUGH-SILICON
TSV
MODEL
INTERCONNECT
STACKING
考虑通孔电阻和耦合电容的时延驱动的层分配算法
期刊论文
2010, 2010
贾艳明
;
蔡懿慈
;
洪先龙
;
Jia Yanming
;
Cai Yici
;
Hong Xianlong
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浏览/下载:2/0
High aspect ratio copper through-silicon-vias for 3D integration
期刊论文
2010, 2010
Chongshen Song
;
Zheyao Wang
;
Qianwen Chen
;
Jian Cai
;
Litian Liu
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浏览/下载:2/0
High aspect ratio copper through-silicon-vias for 3D integration
会议论文
MICROELECTRONIC ENGINEERING, 12th European Workshop on Materials for Advanced Metallization, Dresden, GERMANY, Web of Science
Song, Chongshen
;
Wang, Zheyao
;
Chen, Qianwen
;
Cai, Jian
;
Liu, Litian
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