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浏览/检索结果: 共7条，第1-7条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Mechanism of improved electromigration reliability using Fe-Ni UBM in wafer level package 期刊论文 JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE & TECHNOLOGY, 2018, 卷号: 34, 期号: 8, 页码: 1305-1314 作者:  Gao, LY;  Zhang, H;  Li, CF;  Guo, JD;  Liu, ZQ 收藏  |  浏览/下载：29/0  |  提交时间：2018/12/25 Fe-Ni under bump metallization (UBM)  Intermetallic compounds (IMCs)  Electromigration (EM)  Diffusion  Vacancy formation   The diffusion barrier effect of Fe-Ni UBM as compared to the commercial Cu UBM during high temperature storage 期刊论文 JOURNAL OF ALLOYS AND COMPOUNDS, 2018, 卷号: 739, 页码: 632-642 作者:  Gao, LY;  Li, CF;  Wan, P;  Zhang, H;  Liu, ZQ 收藏  |  浏览/下载：24/0  |  提交时间：2018/06/05 Lead-free Solders  Interfacial Reactions  Sn-ag  Intermetallic Compounds  Rich Solders  Joints  Growth  Reliability  Substrate  Strength   Failure Mechanisms of SAC/Fe-Ni Solder Joints During Thermal Cycling 期刊论文 JOURNAL OF ELECTRONIC MATERIALS, 2017, 卷号: 46, 期号: 8, 页码: 5338-5348 Gao, Li-Yin; Liu, Zhi-Quan; Li, Cai-Fu 收藏  |  浏览/下载：34/0  |  提交时间：2017/08/17 Fe-Ni under bump metallization (UBM)  thermal cycling  microstructural evolution  lifetime  recrystallization  electron backscatter diffraction (EBSD)   Effect of Fe Content on the Interfacial Reliability of SnAgCu/Fe-Ni Solder Joints 期刊论文 Journal of Materials Science & Technology, 2014, 卷号: 30, 期号: 9, 页码: 928-933 H. Zhang; Q. S. Zhu; Z. Q. Liu; L. Zhang; H. Y. Guo; C. M. Lai 收藏  |  浏览/下载：24/0  |  提交时间：2015/01/14 Fe-Ni alloy  Under bump metallization (UBM)  Intermetallic compound  (IMC)  Reliability  High temperature storage  Temperature cycling  lead-free solders  intermetallic compounds  growth-kinetics  cu  metallization  ag  strength  ball  ubm   Application of Electroless Fe-42Ni(P) Film for Under-bump Metallization on Solder Joint 期刊论文 Journal of Materials Science & Technology, 2013, 卷号: 29, 期号: 1, 页码: 7-12 H. F. Zhou; J. D. Guo; Q. S. Zhu; J. K. Shang 收藏  |  浏览/下载：20/0  |  提交时间：2013/12/24 Under-bump metallization (UBM)  Electroless Fe-42Ni(P)  Sn  Solderability  Interfacial reaction  fe-p  solderability  deposition  alloys  sn  behavior  systems  surface  cu   FeNiP化学镀层的制备及其与无铅焊料的润湿性及界面反应性能 学位论文 博士, 北京: 中国科学院金属研究所, 2012 周海飞 收藏  |  浏览/下载：67/0  |  提交时间：2013/04/12 无铅焊料  凸点下金属化层  FeNiP化学镀层  可焊性  界面反应  lead-free solder  under bump metallization  electroless FeNiP  solderability  solder reactions   Fe-Ni新型UBM材料的电镀工艺开发及CSP封装可靠性研究 学位论文 硕士, 北京: 中国科学院金属研究所, 2012 张昊 收藏  |  浏览/下载：101/0  |  提交时间：2013/04/12 Fe-Ni合金  UBM  电镀  CSP封装  可靠性  Fe-Ni alloy  Electroplating  UBM  CSP packaging  Reliability