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浏览/检索结果: 共9条，第1-9条 帮助 限定条件 内容类型：其他     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Liquid flow-induced electricity in carbon nanomaterials (vol 3, pg 599, 2019) 其他 2019-01-01 作者:  Pei, Junxian;  Huang, Jun;  Huang, Zhi;  Liu, Kang 收藏  |  浏览/下载：6/0  |  提交时间：2019/12/05 An adaptive perceptual quantization algorithm based on block-level JND for video coding 其他 2014-01-01 Xiang, Guoqing; Xie, Xiaodong; Jia, Huizhu; Huang, Xiaofeng; Liu, Jie; Wei, Kaijin; Bai, Yuanchao; Liao, Pei; Gao, Wen 收藏  |  浏览/下载：6/0  |  提交时间：2015/11/13 A background modeling scheme based on high efficiency motion classification for surveillance video coding 其他 2014-01-01 Liao, Pei; Huang, Xiaofeng; Jia, Huizhu; Wei, Kaijin; Cai, Binbin; Xiang, Guoqing; Xie, Don 收藏  |  浏览/下载：6/0  |  提交时间：2015/11/17 一种可用于胆固醇型结石溶解的新型溶石剂 其他 2012-01-01 刘微; 张超; 郭琳; 刘栋; 李晓佩; 凌晓锋; 康廷国; 孙学军; 黄昆; 徐怡庄; 吴瑾光; LIU Wei; ZHANG Chao; GUO Lin; LIU Dong; LI Xiao-pei; LING Xiao-feng; KANG Ting-guo; SUN Xue-jun; HUANG Kun; XU Yi-zhuang; WU Jin-guang 收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2015/11/12 胆囊结石 直接灌注溶石疗法 胆固醇型结石 溶石剂 红外光谱   Statistical Analysis of Retention Behavior and Lifetime Prediction of HfO(x)-based RRAM 其他 2011-01-01 Zhang, Lijie; Huang, Ru; Hsu, Yen-Ya; Chen, Frederick T.; Lee, Heng-Yuan; Chen, Yu-Sheng; Chen, Wei-Su; Gu, Pei-Yi; Liu, Wen-Hsing; Wang, Shun-Min; Tsai, Chen-Han; Tsai, Ming-Jinn; Chen, Pang-Shiu 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2015/11/13 lifetime  data retention  breakdown  RRAM  MECHANISM  POWER   Statistical analysis of retention behavior and lifetime prediction of HfOBxB-based RRAM 其他 2011-01-01 Zhang, Lijie; Huang, Ru; Hsu, Yen-Ya; Chen, Frederick T.; Lee, Heng-Yuan; Chen, Yu-Sheng; Chen, Wei-Su; Gu, Pei-Yi; Liu, Wen-Hsing; Wang, Shun-Min; Tsai, Chen-Han; Tsai, Ming-Jinn; Chen, Pang-Shiu 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2015/11/13 Investigations on Proton-Irradiation-Induced Spacer Damage in Deep-Submicron MOSFETs 其他 2008-01-01 Xue, Shoubin; Wang, Pengfei; Huang, Ru; Wu, Dake; Pei, Yunpeng; Wang, Wenhua; Zhang, Xing 收藏  |  浏览/下载：6/0  |  提交时间：2015/11/10 THIN GATE OXIDES  HEAVY-ION IRRADIATION  INDUCED LEAKAGE CURRENT  RELIABILITY DEGRADATION  CMOS TRANSISTORS  DEPENDENCE  BREAKDOWN   Investigations on Proton-Irradiation-Induced Spacer Damage in Deep-Submicron MOSFETs 其他 2008-01-01 Shoubin Xue; Pengfei Wang; Ru Huang; Dake Wu; Yunpeng Pei; Wenhua Wang; Xing Zhang 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2017/12/03 drain  irradiation  capture  defects  saturation  lager  proton  hardness  degraded  isolation  drain  irradiation  capture  defects  saturation  lager  proton  hardness  degraded  isolation   Reliability enhancement in advanced MOSFETS using the U-shape STI structure for radiation appication 其他 2008-01-01 Yunpeng, Pei; Xia, An; Ru, Huang 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2015/11/13