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一种用于CMOS图像传感器单粒子翻转效应的测试方法 专利
申请日期: 2020-06-02,
作者:  文林;  蔡毓龙;  李豫东;  周东;  冯婕
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一种用于CMOS图像传感器单粒子闩锁效应测试方法 专利
申请日期: 2019-10-22,
作者:  郭旗;  蔡毓龙;  李豫东;  文林;  周东
收藏  |  浏览/下载:15/0  |  提交时间:2020/11/25


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