一种用于CMOS图像传感器单粒子翻转效应的测试方法 | |
文林; 蔡毓龙; 李豫东; 周东; 冯婕; 郭旗 | |
2020-06-02 | |
著作权人 | 中国科学院新疆理化技术研究所 |
文献子类 | 发明专利 |
英文摘要 | 本发明提供了一种用于CMOS图像传感器单粒子翻转效应的测试方法。该方法所涉及的测试系统是由PC机和CMOS图像传感器测试板组成,其中CMOS图像传感器测试板由图像和数据接口、现场可编程门阵列、CMOS图像传感器和外围电路组成,在PC机中设置有图像成像软件和寄存器读写软件,PC机中图像采集卡通过数据线与CMOS图像传感器测试板中的图像和数据接口相连,现场可编程门阵列将图像数据映射成标准图像格式传递给PC机,电源通过外围电路为CMOS图像传感器和现场可编程门阵列供电,寄存器读写软件可读写CMOS图像传感器内部寄存器值,同时将读出值和初值进行比较,判定该寄存器是否发生翻转,并自动统计寄存器发生翻转次数。本发明所述方法简单快速,计算结果准确,实时性强。 |
申请日期 | 2020-01-15 |
内容类型 | 专利 |
源URL | [http://ir.xjipc.cas.cn/handle/365002/7621] |
专题 | 固体辐射物理研究室 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 文林,蔡毓龙,李豫东,等. 一种用于CMOS图像传感器单粒子翻转效应的测试方法. 2020-06-02. |
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