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浏览/检索结果: 共6条，第1-6条 帮助 限定条件 学科主题：Physics    专题：新疆理化技术研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Total ionizing dose effect on 0.18 mu m narrow-channel NMOS transistors 期刊论文 ACTA PHYSICA SINICA, 2013, 卷号: 62, 期号: 13 作者:  Wu Xue;  Lu Wu;  Wang Xin;  Xi Shan-Bin;  Guo Qi 收藏  |  浏览/下载：23/0  |  提交时间：2013/11/07 0.18 mu m  narrow-channel NMOS transistor  60Co gamma  RINCE   3d simulation of heavy ion induced charge collection of single event effects in sige heteroj unction bipolar transistor 期刊论文 ACTA PHYSICA SINICA, 2013, 卷号: 62, 期号: 4, 页码: - 作者:  Zhang Jin-Xin;  Guo Hong-Xia;  Guo Qi;  Wen Lin;  Cui Jiang-Wei 收藏  |  浏览/下载：29/0  |  提交时间：2013/11/07 SiGe heterojunction bipolar transistor  single event effect  charge collection  three-dimensional numerical simulation   Effects of orientation of substrate on the enhanced low-dose-rate sensitivity (ELDRS) in NPN transistors 期刊论文 CHINESE PHYSICS C, 2011, 卷号: 35, 期号: 2, 页码: 169-173 作者:  Lu Wu;  Zheng Yu-Zhan;  Wang Yi-Yuan;  Ren Di-Yuan;  Guo Qi 收藏  |  浏览/下载：12/0  |  提交时间：2012/11/29 NPN bipolar junction transistors  (60)Co-gamma irradiation  ELDRS  orientation of substrate   Degradation and dose rate effects of bipolar linear regulator on ionizing radiation 期刊论文 ACTA PHYSICA SINICA, 2011, 卷号: 60, 期号: 9, 页码: - 作者:  Wang Yi-Yuan;  Lu Wu;  Ren Di-Yuan;  Guo Qi;  Yu Xue-Feng 收藏  |  浏览/下载：17/0  |  提交时间：2012/11/29 bipolar linear regulators  total ionizing dose  dose rate effect  radiation damage   Characteristics of high- and low-dose-rate damage for domestic npn transistors of various emitter areas 期刊论文 ACTA PHYSICA SINICA, 2009, 卷号: 58, 期号: 8, 页码: 5572-5577 作者:  Zheng Yu-Zhan;  Lu Wu;  Ren Di-Yuan;  Wang Yi-Yuan;  Guo Qi 收藏  |  浏览/下载：18/0  |  提交时间：2012/11/29 emitter area  domestic npn transistors  dose rate  radiation damage   ELDRS and dose-rate dependence of vertical NPN transistor 期刊论文 CHINESE PHYSICS C, 2009, 卷号: 33, 期号: 1, 页码: 47-49 作者:  Zheng Yu-Zhan;  Lu Wu;  Ren Di-Yuan;  Wang Gai-Li;  Yu Xue-Feng 收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2012/11/29 bipolar junction transistor  ELDRS effect  dose-rate dependence