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新疆理化技术研究所 [2]
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期刊论文 [2]
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2021 [2]
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Analysis of Dark Signal Degradation Caused by 1 MeV Neutron Irradiation on Backside-Illuminated CMOS Image Sensors
期刊论文
CHINESE JOURNAL OF ELECTRONICS, 2021, 卷号: 30, 期号: 1, 页码: 180-184
作者:
Liu, BK (Liu Bingkai)[ 1,2,3 ]
;
Li, YD (Li Yudong)[ 1,2 ]
;
Wen, L (Wen Lin)[ 1,2 ]
;
Zhou, D (Zhou Dong)[ 1,2 ]
;
Feng, J (Feng Jie)[ 1,2 ]
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提交时间:2021/05/10
Backside‐
illuminated CMOS image sensors
Dark signal behaviors
Displacement damage effects
Neutron irradiation
Role of the oxide trapped charges in charge coupled device ionizing radiation-induced dark signal
期刊论文
RADIATION PHYSICS AND CHEMISTRY, 2021, 卷号: 189, 期号: 12, 页码: 1-5
作者:
Li, YD (Li, Yudong)
;
Liu, BK (Liu, Bingkai)
;
Wen, L (Wen, Lin)
;
Wei, Y (Wei, Ying)
;
Zhou, D (Zhou, Dong)
收藏
  |  
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  |  
提交时间:2021/10/14
Radiation effectsTotal ionizing dose (TID)Charge coupled device (CCD)Dark signalOxide trapped charges
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