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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 发表日期：2016    专题：宁波材料技术与工程研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Stress measurement at the interface between a Si substrate and diamond-like carbon/Cr/W films by the electronic backscatter diffraction method 期刊论文 APPLIED PHYSICS EXPRESS, 2016, 卷号: 9, 期号: 2 Zhou, Liqi; Xu, Guofu; Li, Xu; Wang, Xinwei; Ren, Lingling; Wang, Aiying; Tao, Xingfu 收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2016/09/18