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浏览/检索结果: 共6条，第1-6条 帮助 限定条件 发表日期：2016    专题：西安交通大学    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Synergistic effect of mixed neutron and gamma irradiation in bipolar operational amplifier OP07 会议论文 作者:  Liu Yan;  Chen Wei;  Yang Shanchao;  Jin Xiaoming;  He Chaohui 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2019/12/02 Neutron displacement effect  Bipolar device  Operational amplifier  Total ionizing dose effect  Synergistic effect   Vacancy effects on the formation of He and Kr cavities in 3C-SiC irradiated and annealed at elevated temperatures 期刊论文 NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, 2016, 卷号: 389, 期号: [db:dc_citation_issue], 页码: 40-47 作者:  Zang, Hang;  Jiang, Weilin;  Liu, Wenbo;  Devaraj, Arun;  Edwards, Danny J. 收藏  |  浏览/下载：6/0  |  提交时间：2019/12/02 Vacancy effect  High-temperature annealing  Ion irradiation  3C-SiC  He and Kr cavities   Irradiation Induced Microstructure Evolution in Nanostructured Materials: A Review 期刊论文 MATERIALS, 2016, 卷号: 9, 期号: [db:dc_citation_issue] 作者:  Liu, Wenbo;  Ji, Yanzhou;  Tan, Pengkang;  Zang, Hang;  He, Chaohui 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2019/12/02 nanostructured materials  grain boundary  void denuded zones  irradiation resistance   Soft error evaluation and vulnerability analysis in Xilinx Zynq-7010 system-on chip 会议论文 作者:  Du, Xuecheng;  He, Chaohui;  Liu, Shuhuan;  Zhang, Yao;  Li, Yonghong 收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2019/12/02 Fault tree analysis  Reliability  System on Chip (SoC)  Soft error rate   Impact of Bias Conditions on Total Ionizing Dose Effects of Co-60 gamma in SiGe HBT 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2016, 卷号: 63, 期号: [db:dc_citation_issue], 页码: 1251-1258 作者:  Zhang, Jinxin;  Guo, Qi;  Guo, Hongxia;  Lu, Wu;  He, Chaohui 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2019/12/02 total ionizing dose effect  SiGe HBT  Co-60 gamma irradiation  Bias conditions   Primary single event effect studies on Xilinx 28-nm System-on-Chip (SoC) 会议论文 作者:  Zhang, Yao;  Liu, Shuhuan;  Du, Xuecheng;  Yuan, Yuan;  He, Chaohui 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2019/12/02 System-on-Chip  Irradiation experiments  Single event effect  Simulation