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浏览/检索结果: 共4条，第1-4条 帮助 限定条件 专题：光电技术研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Determination of refractive index and thickness of YbF3 thin films deposited at different bias voltages of APS ion source from spectrophotometric methods 期刊论文 ADVANCED OPTICAL TECHNOLOGIES, 2018, 卷号: 7, 期号: 1-2, 页码: 33-37 作者:  Zhang, Yinhua;  Xiong, Shengming;  Huang, Wei;  Zhang, Kepeng 收藏  |  浏览/下载：16/0  |  提交时间：2019/08/23 Bias Voltage  Refractive Index  Transmittance Spectra  Ybf3 Thin Film   Influence of deposition parameters on residual stress of YbF3 thin film 期刊论文 Proceedings of SPIE: Selected Papers of the Photoelectronic Technology Committee Conferences held November 2015, 2016, 卷号: 9796, 页码: 97960N 作者:  Zhang, Yao-Ping;  Fan, Jun-Qi;  Long, Guo-Yun 收藏  |  浏览/下载：16/0  |  提交时间：2018/06/14 Adaptive Optics  Coatings  Deposition  Ion Beam Assisted depositIon  Monocrystalline Silicon  Reflective Coatings  Refractive Index  Residual Stresses  Space Debris  Sputtering   Investigation of laser-induced damage threshold of hafnia/silica high reflectors at 1064 nm 会议论文 Proceedings of SPIE: Pacific Rim Laser Damage 2011: Optical Materials for High Power Lasers, 2012 作者:  Ai, Wanjun;  Xiong, Shengming 收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2016/11/25 Characterization of hafnia thin films made with different deposition technologies 会议论文 Proc. of SPIE, 2011 作者:  Wanjun Ai;  Shengming Xiong 收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2016/11/25