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浏览/检索结果: 共6条，第1-6条 帮助 限定条件 专题：新疆理化技术研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Heavy ion-induced single event effects in active pixel sensor array 期刊论文 SOLID-STATE ELECTRONICS, 2019, 卷号: 152, 期号: 2, 页码: 93-99 作者:  Cai, YL (Cai, Yu-Long)[ 1,2,3 ];  Guo, Q (Guo, Qi)[ 1,2 ];  Li, YD (Li, Yu-Dong)[ 1,2 ];  Wen, L (Wen, Lin)[ 1,2 ];  Zhou, D (Zhou, Dong)[ 1,2 ] 收藏  |  浏览/下载：129/0  |  提交时间：2019/01/03 CMOS active pixel sensor (APS)  SEE  Heavy ion   Analysis of proton and gamma-ray radiation effects on CMOS active pixel sensors 期刊论文 CHINESE PHYSICS B, 2017, 卷号: 26, 期号: 11, 页码: 1-5 作者:  Ma, LD (Ma, Lindong);  Li, YD (Li, Yudong);  Guo, Q (Guo, Qi);  Wen, L (Wen, Lin);  Zhou, D (Zhou, Dong) 收藏  |  浏览/下载：37/0  |  提交时间：2018/01/08 Complementary Metal-oxide-semiconductor (Cmos) Active Pixel Sensor  Dark Current  Fixed-pattern Noise  Quantum Efficiency   Dark signal degradation in proton-irradiated complementary metal oxide semiconductor active pixel sensor 期刊论文 ACTA PHYSICA SINICA, 2015, 卷号: 64, 期号: 8, 页码: 193-199 作者:  Wang, B (Wang Bo);  Li, YD (Li Yu-Dong);  Guo, Q (Guo Qi);  Liu, CJ (Liu Chang-Ju);  Wen, L (Wen Lin) 收藏  |  浏览/下载：21/0  |  提交时间：2018/01/26 Complementary Metal Oxide Semiconductor Active Pixel Sensor  Dark Signal  Proton Radiation  Displacement Effect   Research on dark signal degradation in Co-60 gamma-ray-irradiated CMOS active pixel sensor 期刊论文 ACTA PHYSICA SINICA, 2014, 卷号: 63, 期号: 5 作者:  Wang Bo;  Li Yu-Dong;  Guo Qi;  Liu Chang-Ju;  Wen Lin 收藏  |  浏览/下载：17/0  |  提交时间：2014/11/11 CMOS APS  dark signal  Co-60 gamma-rays  damage mechanism   60Co-γ射线辐照CMOS有源像素传感器诱发暗信号退化的机理研究 期刊论文 物理学报, 2014, 卷号: 63, 期号: 5, 页码: 313-319 作者:  汪波;  李豫东;  郭旗;  刘昌举;  文林 收藏  |  浏览/下载：25/0  |  提交时间：2014/11/11 CMOS有源像素传感器  暗信号  60 Co-γ射线  损伤机理  CMOS APS  dark signal  60 Coγ-rays  damage mechanism   CCD与CMOS图像传感器辐射效应测试系统 期刊论文 光学精密工程, 2013, 卷号: 21, 期号: 11, 页码: 2778-2784 作者:  李豫东;  汪波;  郭旗;  玛丽娅;  任建伟 收藏  |  浏览/下载：18/0  |  提交时间：2014/11/11 辐射效应  抗辐射性能