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A single event upset hardened flip-flop design utilizing layout technique 期刊论文
Microelectronics Reliability, 2019, 卷号: 102
作者:  Wang, Haibin;  Chu, Jiamin;  Wei, Jinghe;  Shi, Junwei;  Sun, Hongwen
收藏  |  浏览/下载：34/0  |  提交时间：2019/12/17
Design of A Compact and Reconfigurable Onboard Data Handling System 会议论文
Melbourne, AUSTRALIA, DEC 11-13, 2018
作者:  Zhou, Qing;  Zhao, Qingjie;  Zhou, Li;  An, Junshe;  Xue, Changbin
收藏  |  浏览/下载：56/0  |  提交时间：2019/06/26
SEE Characteristics of COTS Devices by 1064nm Pulsed Laser Backside Testing 会议论文
Waikoloa, HI, United states, July 16, 2018 - July 20, 2018
作者:  Ma, Yingqi;  Han, Jianwei;  Shangguan, Shipeng;  Chen, Rui;  Zhu, Xiang
收藏  |  浏览/下载：34/0  |  提交时间：2019/03/05
Comparison of single-event upset generated by heavy ion and pulsed laser 期刊论文
Science China Information Sciences, 2017, 卷号: 60, 期号: 7
作者:  Liang, Bin;  Song, Ruiqiang;  Han, Jianwei;  Chi, Yaqing;  Chen, Rui
收藏  |  浏览/下载：61/0  |  提交时间：2017/09/14
单粒子翻转敏感区定位的脉冲激光试验研究 期刊论文
原子能科学技术, 2015, 卷号: 49, 期号: 1, 页码: 176-180
作者:  余永涛;  封国强;  上官士鹏;  陈睿;  韩建伟
收藏  |  浏览/下载：20/0  |  提交时间：2015/09/28
FPGA单粒子翻转事件在轨探测研究 期刊论文
宇航学报, 2014, 卷号: 35, 期号: 4, 页码: 454-458
作者:  侯建文;  张爱兵;  郑香脂;  余庆龙
收藏  |  浏览/下载：66/0  |  提交时间：2014/07/14
脉冲激光模拟SRAM器件单粒子翻转效应的试验方法研究 期刊论文
原子能科学技术, 2013, 卷号: 47, 期号: 11, 页码: 2137-2141
上官士鹏; 封国强; 余永涛; 姜昱光; 韩建伟
收藏  |  浏览/下载：18/0  |  提交时间：2014/04/30
深亚微米SRAM器件单粒子效应的脉冲激光辐照试验研究 期刊论文
原子能科学技术, 2012, 卷号: 46, 期号: 8, 页码: 1019-1024
作者:  上官士鹏;  封国强;  马英起;  韩建伟
收藏  |  浏览/下载：41/0  |  提交时间：2014/12/15
SEE characteristics of small feature size devices by using laser backside testing 期刊论文
Journal of Semiconductors, 2012, 卷号: 33, 期号: 1
作者:  Feng, Guoqiang;  Shangguan, Shipeng;  Ma, Yingqi;  Han, Jianwei
收藏  |  浏览/下载：23/0  |  提交时间：2014/12/15
SEU Mitigation Strategies for SRAM-based FPGA 会议论文
International Symposium on Photoelectronic Detection and Imaging 2011 - Space Exploration Technologies and Applications, Beijing, PEOPLES R CHINA, MAY 24-26, 2011
作者:  Luo Pei;  Zhang Jian
收藏  |  浏览/下载：22/0  |  提交时间：2014/12/15

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