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Application of proportional difference operator method on retention characteristics study of flash memory 其他
2010-01-01
Xie, Bing; Xu, Mingzhen; Tan, Changhua
收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2015/11/13
Electron velocity saturation and probable cross-section area of leakage current path post soft breakdown (SBD) in ultrathin gate oxides 其他
2007-01-01
Xu, Ming-Zhen; Tan, Chang-Hua
收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2015/11/10
Application of proportional difference operator method on endurance characteristics study of flash memory 其他
2007-01-01
Xie, Bing; He, Yandong; Xu, Mingzhen; Tan, Changhua
收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2015/11/12
比例差值谱技术在微尺度器件可靠性研究中的最新应用 期刊论文
中国集成电路, 2006
纪志罡; 许铭真; 谭长华
收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2015/11/11
超薄SiO2软击穿后I-V特性的饱和性质 期刊论文
半导体学报, 2006
许铭真; 谭长华; 段小蓉
收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2015/11/12
Saturation behavior of ultrathin gate oxides after soft breakdown 期刊论文
pan tao ti hsueh paochinese journal of semiconductors, 2006
Xu, Mingzhen; Tan, Changhua; Duan, Xiaorong
收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2015/11/13
Investigation of endurance characteristic using PDO method in FLOTOX EEPROM structures 其他
2004-01-01
Xie, B; He, YD; Xu, MZ; Tan, CH
收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2015/11/16
CELLS  
An investigation of endurance characteristic using PDO method in FLOTOX EEPROM structures 其他
2004-01-01
Xie, Bing; He, Yandong; Xu, Mingzhen; Tan, Changhua
收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2015/11/13
利用直接隧穿弛豫谱技术对超薄栅MOS结构中栅缺陷的研究 期刊论文
半导体学报, 2002
霍宗亮; 杨国勇; 许铭真; 谭长华; 段小蓉
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Proportional difference estimate method for bimodal and multimodal failure distributions 期刊论文
ieee电子器件汇刊, 2001
Mu, FC; Tan, CH; Xu, MZ
收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2015/11/10

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