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浏览/检索结果: 共5条，第1-5条 帮助 限定条件 内容类型：其他     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Enabling Coordinated Register Allocation and Thread-level Parallelism Optimization for GPUs 其他 2015-01-01 Xie, Xiaolong; Liang, Yun; Li, Xiuhong; Wu, Yudong; Sun, Guangyu; Wang, Tao; Fan, Dongrui 收藏  |  浏览/下载：8/0  |  提交时间：2017/12/03 EFFICIENT COMPILER FRAMEWORK  CONTROL FLOW  CACHE  MODEL  PROCESSORS  DIVERGENCE  GPGPUS  FILE   Novel voltage step stress (VSS) technique for fast lifetime prediction of hot carrier degradation 其他 2014-01-01 Feng, Xixiang; Ren, Pengpeng; Ji, Zhigang; Wang, Runsheng; Sutaria, Ketul B.; Cao, Yu; Huang, Ru 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2015/11/13 Microblog users' life time activity prediction 其他 2013-01-01 Jin, Jiahe; Chen, Xi; Geng, Ruibin; Cai, Shun; 蔡舜 收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2015/07/22 Forecasting  Managers  Sales   Closed loop dynamic fuzzy neural network for real-time lifetime forecasting 其他 2013-01-01 Li, Wen Wang; Zheng, Gao Feng; Zheng, Jian Yi; 郑高峰; 郑建毅 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2015/07/22 Feedback  Fuzzy neural networks  Industrial research  Manufacture  Mathematical models  Neural networks   A new lifetime prediction method for hot-carrier degradation in n-MOSFETs with ultrathin gate oxides under V-g = V-d 其他 2001-01-01 Mu, FC; Xu, MZ; Tan, CH; Duan, XR 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2015/11/10 DEVICE DEGRADATION  CHANNEL MOSFETS  MODEL  TRANSISTORS  DAMAGE