×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
CORC
首页
科研机构
检索
知识图谱
申请加入
托管服务
登录
注册
在结果中检索
科研机构
上海电子信息职业技术... [1]
半导体研究所 [1]
上海技术物理研究所 [1]
内容类型
会议论文 [3]
发表日期
2010 [1]
1999 [1]
学科主题
半导体材料 [1]
红外基础研究 [1]
×
知识图谱
CORC
开始提交
已提交作品
待认领作品
已认领作品
未提交全文
收藏管理
QQ客服
官方微博
反馈留言
浏览/检索结果:
共3条,第1-3条
帮助
限定条件
内容类型:会议论文
已选(
0
)
清除
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
作者升序
作者降序
题名升序
题名降序
发表日期升序
发表日期降序
提交时间升序
提交时间降序
High quality mid-infrared InAs film grown on (100) GaSb substrate by LPE using a ternary melt
会议论文
0, 2011-05-24
作者:
Sun CH(孙常鸿)
;
Hu SH(胡淑红)
;
Wang QW(王奇伟)
收藏
  |  
浏览/下载:71/0
  |  
提交时间:2012/10/25
Strain-induced morphological evolution and preferential interdiffusion in SiGe epitaxial film on Si(100) during high-temperature annealing
会议论文
10th international conference on molecular beam epitaxy (mbe-x), cannes, france, aug 31-sep 04, 1998
Liu JP
;
Kong MY
;
Liu XF
;
Li JP
;
Huang DD
;
Li LX
;
Sun DZ
收藏
  |  
浏览/下载:8/0
  |  
提交时间:2010/11/15
STRANSKI-KRASTANOW GROWTH
QUANTUM DOTS
RELAXATION
INAS
Surface compositional profiles of self‐assembled InAs/GaAs quantum rings
会议论文
Rio de Janeiro (Brazil) 【关键词】, 2009
作者:
GiorgioBiasiol
;
TevfikO.Mentes
;
StefanHeun
;
RitaMagri
;
AndreaLocatelli
收藏
  |  
浏览/下载:1/0
  |  
提交时间:2020/01/13
III-V
semiconductors
Surface
photoemission
Atomic
force
microscopy
Surface
composition
Elasticity
Photoemission
electron
microscopy
Quantum
information
Surface
morphology
Thin
film
structure
Topography
©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by
CSpace