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华南理工大学 [4]
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内容类型:会议论文
专题:华南理工大学
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Stress distribution in ultra thin SiO2 film/Si substrate system measured by a low level birefringence detection technique (EI收录)
会议论文
Materials Research Society Symposium Proceedings, San Francisco, CA, United states, April 13, 2004 - April 16, 2004
作者:
Liu, X.H.[1]
;
Peng, H.J.[1]
;
Wong, S.P.[1]
;
Zhao, Shounan[2]
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提交时间:2019/04/18
Bimetals
Birefringence
Elastic moduli
Light sources
Oxidation
Phase interfaces
Poisson ratio
Stress concentration
Strip metal
Substrates
Thermal effects
Thermal expansion
Ultrathin films
Vectors
Fabrication and electrical characteristics of metal-ferroelectric Ba(Zr0.1Ti0.9)O3 film-insulator-silicon structure (CPCI-S收录EI收录)
会议论文
Integrated Ferroelectrics, Fuzhou, China, December 15, 2012 - December 20, 2012
作者:
Chen, Kai-Huang[1]
;
Cheng, Chien-Min[2]
;
Lin, Chun-Cheng[3]
;
Tsai, Jen-Hwan[3]
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提交时间:2019/04/15
Communication
Ferroelectric materials
Ferroelectricity
Insulating materials
Leakage currents
MIS devices
Permittivity
Semiconducting silicon
Semiconductor device structures
Silicon
Silicon oxides
Thin films
The ferroelectric characteristics of Ba(Zr0.1Ti 0.9)O3 thin films under post-annealing treatment for applications in nonvolatile memory devic (EI收录)
会议论文
Advanced Materials Research, Changsha, China, May 28, 2011 - May 30, 2011
作者:
Chen, Kai Huang[1]
;
Tsai, Jen Hwan[2]
;
Wu, Chia Lin[3]
;
Lin, Jian Yang[3]
;
Cheng, Chien Min[4]
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提交时间:2019/04/15
Annealing
Barium
Capacitance
Ferroelectric materials
Ferroelectricity
Metal analysis
Metal insulator boundaries
MIS devices
Nonvolatile storage
Semiconducting silicon
Zirconium
High-reflectance of hybrid reflector with distributed bragg reflector and metal mirror for flip-chip ultra-violet light-emitting diodes (EI收录)
会议论文
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, Beijing, China, May 13, 2014 - May 15, 2014
作者:
Yang, Guang[1]
;
Huang, Huamao[1]
;
Wang, Hong[1]
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提交时间:2019/04/12
Aluminum
Bragg reflectors
Diodes
Distributed Bragg reflectors
Drops
Flip chip devices
Hybrid materials
Laser applications
Laser materials processing
Mirrors
Monte Carlo methods
Ray tracing
Reflection
Refractive index
Thin films
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