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科研机构
西安交通大学 [4]
内容类型
会议论文 [4]
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2018 [2]
2016 [1]
2014 [1]
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内容类型:会议论文
专题:西安交通大学
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The total ionizing dose effect on SiO2 and new high-k gate dielectrics under gamma-ray irradiation
会议论文
作者:
Ding, Man
;
Cheng, Yonghong
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浏览/下载:13/0
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提交时间:2019/11/19
Equivalent oxide thickness
Gamma irradiation
Gamma-ray irradiation
Interface trapped charges
Silicon dangling bond
Thermally oxidized
Total ionizing dose effects
Trapping efficiencies
An Effective Method to Compensate Total Ionizing Dose-Induced Degradation on Double-SOI Structure
会议论文
作者:
Huang, Yang
;
Li, Binhong
;
Zhao, Xing
;
Zheng, Zhongshan
;
Gao, Jiantou
收藏
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浏览/下载:16/0
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提交时间:2019/11/26
Coupling effect
double SOI (DSOI)
negative back-gate bias
total ionizing dose (TID)
Synergistic effect of mixed neutron and gamma irradiation in bipolar operational amplifier OP07
会议论文
作者:
Liu Yan
;
Chen Wei
;
Yang Shanchao
;
Jin Xiaoming
;
He Chaohui
收藏
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2019/12/02
Neutron displacement effect
Bipolar device
Operational amplifier
Total ionizing dose effect
Synergistic effect
Primary total ionizing dose effect studies on Xilinx SoC irradiated with Co-60 gamma rays
会议论文
作者:
Zhang, Yao
;
Du, Xin
;
Du, Xuecheng
;
He, Dongsheng
;
Zhang, Lingang
收藏
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浏览/下载:11/0
  |  
提交时间:2019/12/02
SoC
Experimental System
TID experiment
radiation effect
TID
chip
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