QQ客服 官方微博 反馈留言

	Primary total ionizing dose effect studies on Xilinx SoC irradiated with Co-60 gamma rays
	Zhang, Yao; Du, Xin; Du, Xuecheng; He, Dongsheng; Zhang, Lingang; He, Chaohui; Li, Yonghong; Zang, Hang; Liu, Shuhuan; Liu, Xinzan
	2014
关键词	SoC Experimental System TID experiment radiation effect TID chip
卷号	678
期号	[db:dc_citation_issue]
DOI	[db:dc_identifier_doi]
页码	252-+
会议录	ADVANCES IN MECHATRONICS AND CONTROL ENGINEERING III
URL标识	查看原文
ISSN号	1660-9336
WOS记录号	[DB:DC_IDENTIFIER_WOSID]
内容类型	会议论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/3290647
专题	西安交通大学
推荐引用方式 GB/T 7714	Zhang, Yao,Du, Xin,Du, Xuecheng,et al. Primary total ionizing dose effect studies on Xilinx SoC irradiated with Co-60 gamma rays[C]. 见:.

个性服务

查看访问统计

相关权益政策

暂无数据

收藏/分享

除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。