QQ客服 官方微博 反馈留言

浏览/检索结果: 共4条，第1-4条 帮助 限定条件 学科主题：Engineering (provided by Thomson Reuters)     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 PDSOI CMOS SRAM总剂量辐射及退火效应的研究 期刊论文 核技术, 2011, 卷号: 34, 期号: 6, 页码: 452-456 作者:  李明;  余学峰;  卢健;  高博;  崔江维 收藏  |  浏览/下载：19/0  |  提交时间：2012/11/29 PDSOI  SRAM  总剂量效应  功耗电流  退火效应   星载DC-DC电源转换器总剂量辐射损伤效应研究 期刊论文 原子能科学技术, 2011, 卷号: 45, 期号: 7, 页码: 888-892 作者:  高博;  余学峰;  任迪远;  李豫东;  李茂顺 收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2012/11/29 DC-DC电源转换器  辐射损伤效应  退火效应   80C31单片机电路总剂量效应研究 期刊论文 微电子学, 2005, 卷号: 35, 期号: 6, 页码: 584-586,590 作者:  匡治兵;  郭旗;  任迪远;  李爱武;  汪东 收藏  |  浏览/下载：9/0  |  提交时间：2012/11/29 单片机  60Coγ辐照  辐射损伤  退火   MOS结构热载子注入与总剂量辐照响应的相关性 期刊论文 半导体学报, 2005, 卷号: 26, 期号: 10, 页码: 1975-1978 作者:  余学峰;  任迪远;  艾尔肯;  张国强;  陆妩 收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2012/11/29 热载子注入  总剂量辐照  相关性