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科研机构
半导体研究所 [14]
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期刊论文 [14]
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2009 [1]
2008 [1]
2007 [2]
2003 [2]
2002 [5]
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学科主题
半导体物理 [14]
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学科主题:半导体物理
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Polarization-Driven Topological Insulator Transition in a GaN/InN/GaN Quantum Well
期刊论文
physical review letters, 2012, 卷号: 109, 期号: 18, 页码: 186803
Miao MS (Miao, M. S.)
;
Yan Q (Yan, Q.)
;
Van de Walle CG (Van de Walle, C. G.)
;
Lou WK (Lou, W. K.)
;
Li LL (Li, L. L.)
;
Chang K (Chang, K.)
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浏览/下载:11/0
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提交时间:2013/03/26
The investigation on strain relaxation and double peaks in photoluminescence of InGaN/GaN MQW layers
期刊论文
journal of physics d-applied physics, 2009, 卷号: 42, 期号: 23, 页码: art.no.235104
Zhu, JH (Zhu, J. H.)
;
Wang, LJ (Wang, L. J.)
;
Zhang, SM (Zhang, S. M.)
;
Wang, H (Wang, H.)
;
Zhao, DG (Zhao, D. G.)
;
Zhu, JJ (Zhu, J. J.)
;
Liu, ZS (Liu, Z. S.)
;
Jiang, DS (Jiang, D. S.)
;
Qiu, YX (Qiu, Y. X.)
;
Yang, H (Yang, H.)
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浏览/下载:143/26
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提交时间:2010/03/08
MULTIPLE-QUANTUM WELLS
Effects of external magnetic field on the effective g factor of (Ga,Mn)As
期刊论文
acta physica sinica, 2008, 卷号: 57, 期号: 8, 页码: 5244-5248
Zhou, R
;
Sun, BQ
;
Ruan, XZ
;
Gan, HD
;
Ji, Y
;
Wang, WZ
;
Zhao, JH
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浏览/下载:154/1
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提交时间:2010/03/08
time resolved Kerr rotation measurement
Zeeman effect
Ruderman-Kittel-Kasuya-Yosida model
1-mm gate periphery AlGaN/AIN/GaN HEMTs on SiC with output power of 9.39 W at 8 GHz
期刊论文
solid-state electronics, 2007, 卷号: 51, 期号: 3, 页码: 428-432
Wang XL
;
Cheng TS
;
Ma ZY
;
Hu G
;
Xiao HL
;
Ran JX
;
Wang CM
;
Luo WJ
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浏览/下载:95/0
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提交时间:2010/03/29
AlGaN/GaN
Two opposite gradients of hole density in as-grown and annealed (Ga,Mn)As layers
期刊论文
journal of magnetism and magnetic materials, 2007, 卷号: 308, 期号: 2, 页码: 313-317
作者:
Tan PH
;
Gan HD
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浏览/下载:29/0
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提交时间:2010/04/11
magnetic semiconductors
Metal-semiconductor-metal ultraviolet photodetector based on GaN
期刊论文
science in china series g-physics astronomy, 2003, 卷号: 46, 期号: 2, 页码: 198-203
Wang J
;
Zhao DA
;
Liu ZS
;
Feng G
;
Zhu JJ
;
Shen XM
;
Zhang BS
;
Yang H
收藏
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浏览/下载:35/0
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提交时间:2010/08/12
GaN
MSM
ultraviolet photodetector
responsivity
LOW-NOISE
DETECTORS
PHOTODIODES
SI(111)
GAIN
Thickness measurement of GaN epilayer using high resolution X-ray diffraction technique
期刊论文
science in china series g-physics astronomy, 2003, 卷号: 46, 期号: 4, 页码: 437-440
作者:
Zhao DG
收藏
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浏览/下载:198/6
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提交时间:2010/08/12
GaN
x-ray diffraction
thickness
SAPPHIRE
GROWTH
FILMS
Impact of polarization on quasi-two-dimensional exciton and barrier-width dependence of the exciton associated transition in wurtzite III-V nitride quantum wells
期刊论文
solid state communications, 2002, 卷号: 122, 期号: 5, 页码: 287-292
Wan SP
;
Xia JB
收藏
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浏览/下载:42/0
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提交时间:2010/08/12
quantum wells
semiconductors
piezoelectricity
optical properties
OPTICAL-ABSORPTION
GAN
HETEROSTRUCTURES
SPECTROSCOPY
CONSTANTS
ENERGIES
LIFETIME
SPECTRA
FIELDS
INN
Polarity determination for GaN thin films by electron energy-loss spectroscopy
期刊论文
applied physics letters, 2002, 卷号: 81, 期号: 11, 页码: 1990-1992
Kong X
;
Hu GQ
;
Duan XF
;
Lu Y
;
Liu XL
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浏览/下载:63/0
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提交时间:2010/08/12
DELOCALIZATION CORRECTIONS
ENHANCED MICROANALYSIS
SINGLE-CRYSTALS
DIFFRACTION
Mechanisms of the sidewall facet evolution in lateral epitaxial overgrowth of GaN by MOCVD
期刊论文
journal of physics d-applied physics, 2002, 卷号: 35, 期号: 21, 页码: 2731-2734
作者:
Zhao DG
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浏览/下载:40/0
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提交时间:2010/08/12
VAPOR-PHASE EPITAXY
DEPOSITION
LAYERS
FILMS
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