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Refractive index and thickness analysis of natural silicon dioxide film growing on silicon with variable-angle spectroscopic ellipsometry 期刊论文
Spectroscopy, 2006, 卷号: 21, 期号: 10, 页码: 26-31
作者:  Chen YY(陈艳艳);  Jin G(靳刚)
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Equivalency and Locality in Nano-Scale Measurement 期刊论文
International Journal of Nonlinear Sciences and Numerical Simulation, 2005, 卷号: 6, 期号: 3, 页码: 235-242
作者:  Hu M(胡明);  Wang HY(汪海英);  Bai YL(白以龙);  Xia MF(夏蒙棼);  Ke FJ(柯孚久)
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Optical fringe multiplication technique with TEM nano-moiré method 期刊论文
Measurement Science & Technology, 2005, 卷号: 16, 期号: 2, 页码: 529-534
作者:  Xie HM;  Liu ZW;  Fang DN;  Dai FL;  Xing YM
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Multiscale Treatment of Thin-Film Lubrication 期刊论文
Molecular Simulation, 2005, 卷号: 31, 期号: 12, 页码: 811-815
作者:  Wu ZB(武作兵);  Diestler DJ;  Zeng C
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Nonlocality Effect in Atomic Force Microscopy Measurement and Its Reduction by an Approaching Method 期刊论文
Journal of Engineering Materials and Technology-Transactions of the ASME, 2005, 卷号: 127, 期号: 4, 页码: 444-450
作者:  Hu M(胡明);  Wang HY(汪海英);  Xia MF(夏蒙棼);  Ke FJ(柯孚久);  Bai YL(白以龙)
收藏  |  浏览/下载：1915/256  |  提交时间：2007/06/15
The Uniaxial Tensile Deformation of Ni Nanowire: Atomic-Scale Computer Simulations 期刊论文
Physica E-Low-Dimensional Systems and Nanostructures, 2005, 卷号: 27, 期号: 1, 页码: 113-120
作者:  Zhu RC(朱如曾)
收藏  |  浏览/下载：9/0  |  提交时间：2007/06/15
The Uniaxial Tensile Deformation of Ni Nanowire: Atomic-Scale Computer Simulations 期刊论文
Physica E-Low-Dimensional Systems & Nanostructures, 2005, 卷号: 27, 期号: 1, 页码: 113-120
作者:  Wen YH(文玉华);  Zhu ZZ;  Shao GF;  Zhu RC(朱如曾)
收藏  |  浏览/下载：1091/46  |  提交时间：2007/06/15
Combined effect of surface tension, gravity and van der Waals force induced by a non-contact probe tip on the shape of liquid surface 期刊论文
Chinese Physics Letters, 2005, 卷号: 22, 期号: 8, 页码: 2012-2015
作者:  Liu N(刘楠);  Bai YL(白以龙);  Xia MF(夏蒙棼);  Ke FJ(柯孚久)
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A Molecular Dynamics Simulation: the Effect of Finite Size on the Thermal Conductivity in a Single Crystal Silicon 期刊论文
Molecular Physics, 2004, 卷号: 102, 期号: 18, 页码: 1959-1964
作者:  Tang QH(汤奇恒)
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Size Effect Measurement and Characterization in Nanoindentation Test 期刊论文
Journal of Materials Research, 2004, 卷号: 19, 期号: 1, 页码: 208-217
作者:  Wei YG(魏悦广);  Wang XZ;  Zhao MH
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