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浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 限定条件 发表日期：2019    专题：安徽大学    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Architectural Exploration to Address the Reliability Challenges for ReRAM-Based Buffer in SSD 期刊论文 IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers, 2019, 卷号: Vol.66 No.1, 页码: 226-238 作者:  Xiaoqing Zhao;  Liangliang Dai;  Nanning Zheng;  Xiulong Wu;  Yang Yang 收藏  |  浏览/下载：20/0  |  提交时间：2019/04/24 Reliability  Nonvolatile  memory  Prototypes  Bit  error  rate  Computer  architecture  Transistors  Sun  ReRAM  solid  state  drive  reliability  endurance  bit  error  rate   Architectural Exploration to Address the Reliability Challenges for ReRAM-Based Buffer in SSD 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS I-REGULAR PAPERS, 2019, 卷号: Vol.66 No.1, 页码: 226-238 作者:  Zheng, Nanning;  Liu, Longjun;  Yang, Yang;  Wu, Xiulong;  Zhao, Xiaoqing 收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2019/04/24 ReRAM  solid  state  drive  reliability  endurance  bit  error  rate   Decreasing bit error rate by using enhanced tristable logical stochastic resonance in heavy noise condition 期刊论文 Chinese Journal of Physics, 2019 作者:  Siliang Lu;  Feifei Wang;  Guoqiang Liu;  Hui Yang;  Yongbin Liu 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2019/04/24 Logical  stochastic  resonance  Tristable  potential  Waveform  quality  Parameter  adjustment  Heavy  background  noise