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科研机构
北京大学 [1]
微电子研究所 [1]
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专利 [1]
期刊论文 [1]
发表日期
2014 [2]
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发表日期:2014
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半导体器件及其制造方法
专利
专利号: US8710556, 申请日期: 2014-04-29, 公开日期: 2011-07-07
作者:
尹海洲
;
梁擎擎
;
骆志炯
;
朱慧珑
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提交时间:2015/05/28
A novel method for measuring parasitic resistance in high electron mobility transistors
期刊论文
固体电子学, 2014
Yang, Zhen
;
Wang, Jinyan
;
Li, Xiaoping
;
Zhang, Bo
;
Zhao, Jian
;
Xu, Zhe
;
Wang, Maojun
;
Yu, Min
;
Yang, Zhenchuan
;
Wu, Wengang
;
Zhang, Yuming
;
Zhang, Jincheng
;
Ma, Xiaohua
;
Hao, Yue
收藏
  |  
浏览/下载:6/0
  |  
提交时间:2015/11/10
Parasitic resistance
High-electron mobility transistor (HEMT)
Floating-gate
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