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Characterization of Arsenic Ultra-Shallow Junctions in Silicon Using Photocarrier Radiometry and Spectroscopic Ellipsometry 期刊论文
INTERNATIONAL JOURNAL OF THERMOPHYSICS, 2012, 卷号: 33, 期号: 10-11, 页码: 2082-2088
作者:  Huang, Qiuping;  Li, Bincheng;  Gao, Weidong
收藏  |  浏览/下载：15/0  |  提交时间：2015/07/10
Analysis of Enhanced Photocarrier Radiometry Signals for Ion-Implanted and Annealed Silicon Wafers 期刊论文
INTERNATIONAL JOURNAL OF THERMOPHYSICS, 2012, 卷号: 33, 期号: 10-11, 页码: 2089-2094
作者:  Liu, Xianming;  Li, Bincheng;  Huang, Qiuping
收藏  |  浏览/下载：9/0  |  提交时间：2015/07/10
Characterization of PII textured industrial multicrystalline silicon solar cells 期刊论文
SOLAR ENERGY, 2012, 卷号: 86, 期号: 10, 页码: 3004-3008
作者:  Liu, J;  Liu, BW;  Shen, ZN;  Liu, JH;  Zhong, SH
收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2015/05/25
Study on the optical characteristic of "black silicon" antireflection coating prepared by plasma immersion ion implantation 期刊论文
ACTA PHYSICA SINICA, 2012, 卷号: 61, 期号: 14, 页码: -
作者:  Liu, J;  Liu, BW;  Xia, Y;  Li, CB;  Liu, S
收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2015/05/25
荷能Xe 离子注入SiC 中缺陷和力学性能演化行为的研究 学位论文
北京: 中国科学院研究生院, 2012
作者:  李健健
收藏  |  浏览/下载：25/0  |  提交时间：2015/10/28
Photocarrier radiometry of ion-implanted and thermally annealed silicon wafers with multiple-wavelength excitations 期刊论文
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 2012, 卷号: 111, 期号: 9
作者:  Huang, Qiuping;  Li, Bincheng
收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2015/07/10
Nickel ohmic contacts of high-concentration P-implanted 4H-SiC 期刊论文
半导体学报/Journal of Semiconductors, 2012, 卷号: 33, 期号: 3, 页码: 118-121
作者:  Liu CJ(刘春娟);  Liu S(刘肃);  Feng JJ(冯晶晶);  Wu R(吴蓉)
收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2015/06/24
Material engineering technique for SiOX-based embedded RRAM with CMOS compatible process 其他
2012-01-01
Pan, Yue; Huang, Ru; Huang, Yinglong; Zhang, Lijie; Tan, Shenghu; Cai, Yimao; Wang, Yangyuan
收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2015/11/13
Photocarrier radiometry of ion-implanted and thermally annealed silicon wafers with multiple-wavelength excitations 期刊论文
Journal of Applied Physics, 2012, 卷号: 111, 期号: 9, 页码: 093729
作者:  Huang, Qiuping;  Li, Bincheng
收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2016/11/21
Characterization of arsenic ultra-shallow junctions in silicon using photocarrier radiometry and spectroscopic ellipsometry 会议论文
International Journal of Thermophysics, 2012
作者:  Huang, Qiuping;  Li, Bincheng;  Gao, Weidong
收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2016/11/25

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