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科研机构
半导体研究所 [3]
内容类型
期刊论文 [3]
发表日期
2010 [3]
学科主题
微电子学 [3]
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发表日期:2010
学科主题:微电子学
内容类型:期刊论文
专题:半导体研究所
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Influence of nitrogen dose on the charge density of nitrogen-implanted buried oxide in SOI wafers
期刊论文
journal of semiconductors, 2010, 卷号: 31, 期号: 2, 页码: 99-102
Zheng Zhongshan
;
Liu Zhongli
;
Li Ning
;
Li Guohua
;
Zhang Enxia
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浏览/下载:18/0
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提交时间:2011/08/16
Influence of nitrogen implantation into the buried oxide on the radiation hardness of silicon-on-insulator wafers
期刊论文
chinese physics b, 2010, 卷号: 19, 期号: 10, 页码: art. no. 106106
Tang HM (Tang Hai-Ma)
;
Zheng ZS (Zheng Zhong-Shan)
;
Zhang EX (Zhang En-Xia)
;
Yu F (Yu Fang)
;
Li N (Li Ning)
;
Wang NJ (Wang Ning-Juan)
收藏
  |  
浏览/下载:49/0
  |  
提交时间:2010/11/02
silicon-on-insulator wafers
radiation hardness
nitrogen implantation
Electrical and Optical Phase Transition Properties of Nano Vanadium Dioxide Thin Films
期刊论文
spectroscopy and spectral analysis, 2010, 卷号: 30, 期号: 4, 页码: 1002-1007
Liang JR (Liang Ji-ran)
;
Hu M (Hu Ming)
;
Wang XD (Wang Xiao-dong)
;
Li GK (Li Gui-ke)
;
Kan Q (Kan Qiang)
;
Ji A (Ji An)
;
Yang FH (Yang Fu-hua)
;
Liu J (Liu Jian)
;
Wu NJ (Wu Nan-jian)
;
Chen HD (Chen Hong-da)
收藏
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浏览/下载:178/28
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提交时间:2010/04/26
Nano VO2 thin films
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