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干涉仪精确确定光学系统聚焦面的装置 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: ZL200620042599.6, 申请日期: 2007-10-10, 公开日期: 2011-07-14, 2011-07-15
曹晓君; 朱健强; 林强; 杨毓
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晶体性能综合测量系统的研究 学位论文
博士: 中国科学院上海光学精密机械研究所, 2007
作者:  薄锋
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