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半导体研究所 [15]
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期刊论文 [12]
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2005 [2]
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2003 [1]
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学科主题
光电子学 [15]
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学科主题:光电子学
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High-frequency characterization of packaging network in to-can photodiode modules
期刊论文
microwave and optical technology letters, 2008, 卷号: 50, 期号: 5, 页码: 1219-1223
Zhu, NH
;
Wen, JM
;
Zhang, SJ
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浏览/下载:81/1
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提交时间:2010/03/08
equivalent circuits
scattering-parameters measurement
test fixture calibration
photodiode
through hole (TO) packaging
Choice of calibration equations in calibrating microwave test fixtures
期刊论文
international journal of electronics, 2008, 卷号: 95, 期号: 8, 页码: 859-866
Liu, J
;
Feng, WW
;
Zhu, NH
收藏
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浏览/下载:100/0
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提交时间:2010/03/08
microwave network analyser
microwave measurement
calibration
test fixture
A 16-term error model based on linear equations of voltage and current variables
期刊论文
ieee transactions on microwave theory and techniques, 2006, 卷号: 54, 期号: 4, 页码: 1464-1469
Silvonen K
;
Zhu NH
;
Liu Y
收藏
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浏览/下载:54/0
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提交时间:2010/04/11
calibration
deembedding
error model
15 term
four-port
network analyzer
parasitic
scattering parameter
16 term
NETWORK-ANALYZER CALIBRATION
SCATTERING-PARAMETER
LOAD IMPEDANCES
LEAKAGE ERRORS
COMPLEX SOURCE
T-PARAMETERS
S-PARAMETERS
CONVERSIONS
DEVICES
ABCD
A new method based on the construction of hypothetical symmetrical networks for fixture calibration in network analyzers
期刊论文
acta physica sinica, 2005, 卷号: 54, 期号: 6, 页码: 2606-2610
Liu C
;
Zhang SJ
;
Xie L
;
Zhu NH
收藏
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浏览/下载:54/27
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提交时间:2010/03/17
calibration
An improved TM method for full two-port calibration of the asymmetric test fixtures
期刊论文
microwave and optical technology letters, 2005, 卷号: 45, 期号: 5, 页码: 438-441
Zhu NH
;
Liu C
;
Pun EYB
;
Chung PS
收藏
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浏览/下载:14/0
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提交时间:2010/03/17
calibration
Calibration of microwave network analyzer
期刊论文
science in china series e-technological sciences, 2004, 卷号: 47, 期号: 2, 页码: 141-149
Zhu, NH
;
Wang, YL
;
Chen, ZY
收藏
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浏览/下载:181/60
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提交时间:2010/03/09
calibration
Frequency limitation in the calibration of microwave test fixtures
期刊论文
ieee transactions on microwave theory and techniques, 2003, 卷号: 51, 期号: 9, 页码: 2000-2006
Zhu NH
;
Qian C
;
Wang YL
;
Pun EYB
;
Chung PS
收藏
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浏览/下载:31/0
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提交时间:2010/08/12
calibration
deembedding
microwave network analyzer
scattering parameter measurement
test fixture
NETWORK-ANALYZER CALIBRATION
Scattering-parameter measurements of laser diodes
期刊论文
optical and quantum electronics, 2002, 卷号: 34, 期号: 8, 页码: 747-757
Zhu NH
;
Liu Y
;
Pun EYB
;
Chung PS
收藏
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浏览/下载:47/0
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提交时间:2010/08/12
microwave network analyzer
scattering-parameter measurement
semiconductor laser diode
test fixture calibration
TEST FIXTURES
CALIBRATION
Two-port calibration of test fixtures with different test ports
期刊论文
microwave and optical technology letters, 2002, 卷号: 35, 期号: 4, 页码: 299-302
Zhen YC
;
You LW
;
Yu L
;
Ning HZ
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浏览/下载:30/0
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提交时间:2010/08/12
two-port calibration
microwave network analyzer
scattering-parameter measurement
phase uncertainty
NETWORK-ANALYZER CALIBRATION
LINE
Frequency limitation in calibrating microwave test fixtures
会议论文
3rd international conference on microwave and millimeter wave technology, beijing, peoples r china, aug 17-19, 2002
Qian C
;
Wang YL
;
Chen ZY
;
Zhu NH
收藏
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浏览/下载:19/2
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提交时间:2010/10/29
calibration
microwave network analyzer
scattering-parameter measurement
phase uncertainty
NETWORK-ANALYZER CALIBRATION
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