QQ客服 官方微博 反馈留言

浏览/检索结果: 共8条，第1-8条 帮助 限定条件 学科主题：半导体材料     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序题名升序题名降序作者升序作者降序 Fabrication, morphology and mechanical properties of Al2O3-Al graded coatings on China low activation martensitic steel substrates 期刊论文 surface and interface analysis, 2011 Song, Binbin; Wu, Ping; Chen, Sen; Zhang, Shiping; Yan, Dan; Xue, Lian 收藏  |  浏览/下载：54/0  |  提交时间：2012/06/14 Adhesion  Auger electron spectroscopy  Fabrication  Hardness  Magnetron sputtering  Martensitic steel  Morphology  Nanoindentation  Protective coatings  Scanning electron microscopy  Silicon wafers  X ray photoelectron spectroscopy   Investigation of Mn-implanted n-Si by low-energy ion beam deposition 期刊论文 journal of crystal growth, 2005, 卷号: 273, 期号: 3-4, 页码: 458-463 作者:  Yin ZG 收藏  |  浏览/下载：47/0  |  提交时间：2010/03/17 auger electron spectroscopy   (Ga, Gd, As) film growth on GaAs substrate by low-energy ion-beam deposit 期刊论文 journal of crystal growth, 2004, 卷号: 260, 期号: 3-4, 页码: 451-455 Song SL; Chen NF; Zhou JP; Li YL; Chai CL; Yang SY; Liu ZK 收藏  |  浏览/下载：356/46  |  提交时间：2010/03/09 auger electron spectroscopy   Properties of high k gate dielectric gadolinium oxide deposited on Si(100) by dual ion beam deposition (DIBD) 期刊论文 journal of crystal growth, 2004, 卷号: 270, 期号: 1-2, 页码: 21-29 Zhou JP; Chai CL; Yang SY; Liu ZK; Song SL; Li YL; Chen NF 收藏  |  浏览/下载：143/35  |  提交时间：2010/03/09 auger electron spectroscopy   Investigation of Mn-implanted n-type Ge 期刊论文 journal of crystal growth, 2004, 卷号: 265, 期号: 3-4, 页码: 466-470 作者:  Yin ZG 收藏  |  浏览/下载：104/34  |  提交时间：2010/03/09 Auger electron spectroscopy   FexSi grown with mass-analyzed low-energy dual ion beam deposition 期刊论文 journal of crystal growth, 2004, 卷号: 263, 期号: 1-4, 页码: 143-147 Liu LF; Chen NF; Zhang FQ; Chen CL; Li YL; Yang SY; Liu Z 收藏  |  浏览/下载：80/34  |  提交时间：2010/03/09 Auger electron spectroscopy   GdxSi grown with mass-analyzed low energy dual ion beam epitaxy technique 期刊论文 journal of crystal growth, 2002, 卷号: 242, 期号: 3-4, 页码: 389-394 Zhou JP; Chen NF; Zhang FQ; Song SL; Chai CL; Yang SY; Liu ZK; Lin LY 收藏  |  浏览/下载：54/0  |  提交时间：2010/08/12 Auger electron spectroscopy  X-ray diffraction  X-ray photoelectron spectroscopy  ion beam epitaxy  semiconducting gadolinium silicide  SEMICONDUCTING SILICIDES  MAGNETIC SEMICONDUCTORS  TRANSITION  INSULATOR  SILICON  FILMS   Optical and structural properties of anodized AlxGa1-xAs layers 期刊论文 materials science and engineering b-solid state materials for advanced technology, 1997, 卷号: 44, 期号: 0, 页码: 121-124 Xiang XB; Liao XB; Chang SL; Du WH 收藏  |  浏览/下载：15/0  |  提交时间：2010/11/17 anodized AlxGa1-xAs films  optical reflectance  x-ray photoemission  auger electron spectroscopy