×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
CORC
首页
科研机构
检索
知识图谱
申请加入
托管服务
登录
注册
在结果中检索
科研机构
上海大学 [5]
内容类型
期刊论文 [5]
发表日期
2014 [5]
×
知识图谱
CORC
开始提交
已提交作品
待认领作品
已认领作品
未提交全文
收藏管理
QQ客服
官方微博
反馈留言
浏览/检索结果:
共5条,第1-5条
帮助
限定条件
专题:上海大学
第一署名单位
第一作者单位
通讯作者单位
已选(
0
)
清除
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
发表日期升序
发表日期降序
提交时间升序
提交时间降序
题名升序
题名降序
作者升序
作者降序
Extraction of density-of-states in amorphous InGaZnO thin-film transistors from temperature stress studies
期刊论文
CURRENT APPLIED PHYSICS, 2014, 卷号: 14, 页码: 1713-1717
作者:
Ding, Xingwei[1]
;
Zhang, Jianhua[2]
;
Shi, Weimin[3]
;
Zhang, Hao[4]
;
Huang, Chuanxin[5]
收藏
  |  
浏览/下载:16/0
  |  
提交时间:2019/04/30
IGZO
Thin-film transistors
Density-of-states
Temperature stability
ZrO2 insulator modified by a thin Al2O3 film to enhance the performance of InGaZnO thin-film transistor
期刊论文
MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2014, 卷号: 54, 页码: 2401-2405
作者:
Ding, Xingwei[1]
;
Zhang, Jianhua[2]
;
Zhang, Hao[3]
;
Ding, He[4]
;
Huang, Chuanxin[5]
收藏
  |  
浏览/下载:16/0
  |  
提交时间:2019/04/30
IGZO thin-film transistor
ZrO2-Al2O3 bilayer gate insulator
ALD
Bias stability
Effect of sputtering power densities on density-of-states in InZnO thin-film transistor
期刊论文
SUPERLATTICES AND MICROSTRUCTURES, 2014, 卷号: 74, 页码: 11-18
作者:
Ding, Xingwei[1]
;
Ding, He[2]
;
Huang, Chuanxin[3]
;
Zhang, Hao[4]
;
Shi, Weimin[5]
收藏
  |  
浏览/下载:15/0
  |  
提交时间:2019/04/30
Sputtering power densities
IZO thin-film transistors
Atomic layer deposition
Density-of-states
Growth of IZO/IGZO dual-active-layer for low-voltage-drive and high-mobility thin film transistors based on an ALD grown Al2O3 gate insulator
期刊论文
SUPERLATTICES AND MICROSTRUCTURES, 2014, 卷号: 76, 页码: 156-162
作者:
Ding, Xingwei[1]
;
Zhang, Hao[2]
;
Ding, He[3]
;
Zhang, Jianhua[4]
;
Huang, Chuanxin[5]
收藏
  |  
浏览/下载:16/0
  |  
提交时间:2019/04/30
Thin-film transistors
Dual-active-layers
Atomic layer deposition
Density-of-states
Characterization of density-of-states in indium zinc oxide thin-film transistor from temperature stress studies
期刊论文
MATERIALS SCIENCE IN SEMICONDUCTOR PROCESSING, 2014, 卷号: 27, 页码: 154-158
作者:
Ding, Xingwei[1]
;
Zhang, Jianhua[2]
;
Shi, Weimin[3]
;
Zhang, Hao[4]
;
Huang, Chuanxin[5]
收藏
  |  
浏览/下载:13/0
  |  
提交时间:2019/04/30
IZO thin-film transistors
Atomic layer deposition
Density-of-states
Temperature stress instability
©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by
CSpace