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浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 限定条件 发表日期：2018     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Total Ionizing Dose Response and Annealing Behavior of Bulk nFinFETs With ON-State Bias Irradiation 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2018, 卷号: 65, 期号: 8, 页码: 1503-1510 作者:  Yang, L (Yang, Ling)[ 1,2 ];  Zhang, QZ (Zhang, Qingzhu)[ 1,3 ];  Huang, YB (Huang, Yunbo)[ 1,2 ];  Zheng, ZS (Zheng, Zhongshan)[ 1,2 ];  Li, B (Li, Bo)[ 1,2 ] 收藏  |  浏览/下载：34/0  |  提交时间：2018/09/18 Anneal  Finfet  On-state Bias  Total Ionizing Dose (Tid)   Si Nanowire Biosensors Using a FinFET Fabrication Process for Real Time Monitoring Cellular Ion Actitivies 会议论文 2018 IEEE INTERNATIONAL ELECTRON DEVICES MEETING (IEDM), 2018-01-01 作者:  Zhang, Qingzhu;  Tu, Hailing;  Yin, Huaxiang;  Wei, Feng;  Zhao, Hongbin 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2020/01/03