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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 专题：大连理工大学    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序题名升序题名降序作者升序作者降序 Plasma passivation of near-interface oxide traps and voltage stability in SiC MOS capacitors 期刊论文 JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 2019, 卷号: 125 作者:  Sun, Yunong;  Yang, Chao;  Yin, Zhipeng;  Qin, Fuwen;  Wang, Dejun 收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2019/12/02