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北京大学 [9]
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其他 [18]
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2016 [1]
2015 [5]
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Measurement of Upsilon production in pp collisions at root s = 13TeV (vol 134, 1804.09214, 2018)
其他
2019-01-01
作者:
Aaij, R.
;
Adeva, B.
;
Adinolfi, M.
;
Ajaltouni, Z.
;
Akar, S.
收藏
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浏览/下载：38/0
|
提交时间：2019/12/05
Measurement of the CKM angle using B-+/- DK +/- with D -> KS0(+-),(KsK+K-)-K-0 decays (vol 08, 176, 2018)
其他
2018-01-01
作者:
Aaij, R.
;
Adeva, B.
;
Adinolfi, M.
收藏
|
浏览/下载：13/0
|
提交时间：2019/12/05
Measurement of CP observables in B-+/- -> DK*(+/-) decays using two- and four-body D final states (vol 11, 156, 2017)
其他
2018-01-01
作者:
Aaij, R.
;
Collaboration, LHCb
;
Adeva, B.
;
Adinolfi, M.
;
Ajaltouni, Z.
收藏
|
浏览/下载：8/0
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提交时间：2019/12/05
Measurement of CP observables in B-+/- -> DK*(+/-) decays using two- and four-body D final states (vol 11, 156, 2017)
其他
2018-01-01
作者:
Aaij, R.
;
Collaboration, LHCb
;
Adeva, B.
;
Adinolfi, M.
;
Ajaltouni, Z.
收藏
|
浏览/下载：5/0
|
提交时间：2019/12/05
Measurement of the CKM angle using B-+/- DK +/- with D -> KS0(+-),(KsK+K-)-K-0 decays (vol 08, 176, 2018)
其他
2018-01-01
作者:
Aaij, R.
;
Adeva, B.
;
Adinolfi, M.
;
Aidala, C. A.
;
Ajaltouni, Z.
收藏
|
浏览/下载：7/0
|
提交时间：2019/12/05
Measurement of the J/psi pair production cross-section in pp collisions at root s = 13 TeV (vol 6, 47, 2017)
其他
2017-01-01
作者:
Aaij, R.
;
Adeva, B.
;
Adinolfi, M.
;
Ajaltouni, Z.
;
Akar, S.
收藏
|
浏览/下载：10/0
|
提交时间：2019/12/05
Measurement of the J/psi pair production cross-section in pp collisions at root s = 13 TeV (vol 6, 47, 2017)
其他
2017-01-01
作者:
Aaij, R.
;
Adeva, B.
;
Adinolfi, M.
;
Ajaltouni, Z.
;
Akar, S.
收藏
|
浏览/下载：13/0
|
提交时间：2019/12/05
Measurement of the J/psi pair production cross-section in pp collisions at root s = 13 TeV (vol 6, 47, 2017)
其他
2017-01-01
作者:
Aaij, R.
;
Adeva, B.
;
Adinolfi, M.
;
Ajaltouni, Z.
;
Akar, S.
收藏
|
浏览/下载：6/0
|
提交时间：2019/12/05
HIGH SENSITIVITY AND LARGE MEASUREMENT RANGE REFRACTOMETRIC SENSING BASED ON MACH-ZEHNDER INTERFEROMETER
其他
2016-01-01
Zhang, G.
;
Cai, H.
;
Gu, Y. D.
;
Song, J. F.
;
Dong, B.
;
Yang, Z. C.
;
Jin, Y. F.
;
Hao, Y. L.
;
Sivalingam, S. P.
;
Yap, P. H.
;
Kwong, D. L.
;
Liu, A. Q.
收藏
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浏览/下载：4/0
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提交时间：2017/12/03
An Investigation of DC/AC Hot Carrier Degradation in Multiple-fin SOI FinFETs
其他
2015-01-01
Jiang, H.
;
Liu, X. Y.
;
Xu, N.
;
He, Y. D.
;
Du, G.
;
Zhang, X.
收藏
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浏览/下载：5/0
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提交时间：2017/12/03
multi-gate FET
Silicon-on-insulator
hot carrier degradation
reliability
N-FINFETS
INJECTION
MOSFETS
GATE
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