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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 内容类型：专利     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 一种测量绝缘子结构高度的装置 专利 专利号: ZLCN201621230497.7, 申请日期: 2016-01-01, 作者:  孙晓瑜;  邹显斌;  陈子涵;  葛梦昕;  傅裕斌 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2019/12/05