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| 基于反射式太赫兹光谱第一镜表面杂质分析装置 专利
申请日期: 2013-01-01, 公开日期: 2013-07-03
作者: 海然; 张辰飞; 信裕; 丁洪斌
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| 一种分析聚变装置第一镜杂质沉积层厚度及其结构的方法 专利
申请日期: 2013-01-01, 公开日期: 2013-05-15
作者: 海然; 张辰飞; 信裕; 丁洪斌
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| 一种原位分析聚变装置第一镜表面杂质的方法 专利
申请日期: 2013-01-01, 公开日期: 2013-05-15
作者: 海然; 张辰飞; 信裕; 丁洪斌
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| 一种在线测量PLD薄膜化学计量比及各成分质量的装置 专利
申请日期: 2013-01-01, 公开日期: 2013-09-04
作者: 丁洪斌; 吴兴伟; 李聪; 张辰飞
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| 一种测量材料耐烧蚀特性的装置 专利
申请日期: 2013-01-01, 公开日期: 2013-08-21
作者: 丁洪斌; 李聪; 吴兴伟; 张辰飞
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| 一种测量材料耐烧蚀特性的方法 专利
申请日期: 2013-01-01, 公开日期: 2013-06-12
作者: 丁洪斌; 李聪; 吴兴伟; 张辰飞
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| 一种在线测量PLD薄膜化学计量比及各成分质量的方法 专利
申请日期: 2013-01-01, 公开日期: 2013-07-10
作者: 丁洪斌; 吴兴伟; 李聪; 张辰飞
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| 高灵敏度光腔衰荡光谱原位诊断介质阻挡放电中NO2的产生与脱除机理 会议论文
第十六届全国等离子体科学技术会议暨第一届全国等离子体医学研讨会, 上海, 2013-08-15
作者: 吴兴伟; 李聪; 张辰飞; 丁洪赋
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| 高灵敏度光腔衰荡光谱原位诊断介质阻挡放电中NO_2的产生与脱除机理 会议论文
第十六届全国等离子体科学技术会议暨第一届全国等离子体医学研讨会, 中国上海, 2013-08-15
作者: 吴兴伟; 李聪; 张辰飞; 丁洪斌
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