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浏览/检索结果: 共8条，第1-8条 帮助 限定条件 内容类型：专利    专题：大连理工大学    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序题名升序题名降序作者升序作者降序 基于反射式太赫兹光谱第一镜表面杂质分析装置 专利 申请日期: 2013-01-01, 公开日期: 2013-07-03 作者:  海然;  张辰飞;  信裕;  丁洪斌 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2019/12/11 一种分析聚变装置第一镜杂质沉积层厚度及其结构的方法 专利 申请日期: 2013-01-01, 公开日期: 2013-05-15 作者:  海然;  张辰飞;  信裕;  丁洪斌 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2019/12/11 一种原位分析聚变装置第一镜表面杂质的方法 专利 申请日期: 2013-01-01, 公开日期: 2013-05-15 作者:  海然;  张辰飞;  信裕;  丁洪斌 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2019/12/11 一种在线测量PLD薄膜化学计量比及各成分质量的装置 专利 申请日期: 2013-01-01, 公开日期: 2013-09-04 作者:  丁洪斌;  吴兴伟;  李聪;  张辰飞 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2019/12/11 一种测量材料耐烧蚀特性的装置 专利 申请日期: 2013-01-01, 公开日期: 2013-08-21 作者:  丁洪斌;  李聪;  吴兴伟;  张辰飞 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2019/12/11 一种测量材料耐烧蚀特性的方法 专利 申请日期: 2013-01-01, 公开日期: 2013-06-12 作者:  丁洪斌;  李聪;  吴兴伟;  张辰飞 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2019/12/11 一种在线测量PLD薄膜化学计量比及各成分质量的方法 专利 申请日期: 2013-01-01, 公开日期: 2013-07-10 作者:  丁洪斌;  吴兴伟;  李聪;  张辰飞 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2019/12/11 一种发射光谱诊断低气压等离子体炬空间分布特性的方法 专利 申请日期: 2011-01-01, 公开日期: 2011-09-14 作者:  丁洪斌;  李聪;  吴兴伟;  王宏北;  张辰飞 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2019/12/18