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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 专题：微电子研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序题名升序题名降序作者升序作者降序 Grain structure and crystallographic orientation in Cu damascene lines 外文期刊 2004 作者:  Ji, Y;  Zhong, TX;  Li, ZG;  Wang, XD;  Luo, D 收藏  |  浏览/下载：20/0  |  提交时间：2010/11/26 Copper Interconnects  Texture Analysis  Electromigration  Microstructure  Diffraction  Conductors  Films