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兰州大学 [3]
内容类型
期刊论文 [3]
发表日期
1981 [3]
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发表日期:1981
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SiO_2_Si界面质量的特征性表示及与管芯成品率的关系
期刊论文
半导体技术, 1981, 期号: 6, 页码: 6-13
作者:
李思渊
;
李寿嵩
;
张秀文
;
杨映虎
;
裘会芳
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浏览/下载:2/0
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提交时间:2015/04/27
成品率:5556
管芯:4538
界面质量:3636
SiO_2/Si:3582
界面电荷:2519
抛光:2233
界面态:2176
界面效应:1636
铬离子:1511
固定氧:1198
金在Si_2O_Si界面处负电荷效应的实验研究
期刊论文
半导体技术, 1981, 期号: 2, 页码: 1-6
作者:
李思渊
;
李寿嵩
;
张秀文
;
杨映虎
;
裘惠芳
收藏
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提交时间:2015/04/27
负电荷效应:6198
Si界面:4546
界面电荷:2953
退火温度:2816
界面态:2473
层电荷:2357
固定氧:1966
金片:1800
界面缺陷:1699
实验研究:1603
PADAT光度法连续测定铜和钴
期刊论文
高等学校化学学报, 1981, 期号: 4, 页码: 537-540
作者:
赵正风
;
田希文
;
胡之德
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提交时间:2015/04/23
铜络合物:7275
光度法:4683
测定铜:2839
反萃取:2180
摩尔吸收系数:1650
钴:1537
分析化学:1493
低合金钢:1359
桑德尔灵敏度:1262
显色反应:1247
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