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浏览/检索结果: 共4条，第1-4条 帮助 限定条件 专题：新疆理化技术研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 CIS单粒子效应机理及模拟试验方法 学位论文 中国科学院新疆理化技术研究所: 中国科学院大学, 2021 作者:  蔡毓龙 收藏  |  浏览/下载：41/0  |  提交时间：2021/08/27 CMOS图像传感器  单粒子效应  空间辐射效应  Geant4   Single-Event Effects in Pinned Photodiode CMOS Image Sensors: SET and SEL 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2020, 卷号: 67, 期号: 8, 页码: 1861-1868 作者:  Cai, YL (Cai, Yulong)[ 1,2 ];  Wen, L (Wen, Lin)[ 3 ];  Li, YD (Li, Yudong)[ 3 ];  Guo, Q (Guo, Qi)[ 3 ];  Zhou, D (Zhou, Dong)[ 3 ] 收藏  |  浏览/下载：24/0  |  提交时间：2020/09/09 Complementary metal-oxide-semiconductor  (CMOS) image sensors (CIS)  heavy ions  pulsed laser  single-event latchup (SEL)  single-event transient (SET)   Heavy ion-induced single event effects in active pixel sensor array 期刊论文 SOLID-STATE ELECTRONICS, 2019, 卷号: 152, 期号: 2, 页码: 93-99 作者:  Cai, YL (Cai, Yu-Long)[ 1,2,3 ];  Guo, Q (Guo, Qi)[ 1,2 ];  Li, YD (Li, Yu-Dong)[ 1,2 ];  Wen, L (Wen, Lin)[ 1,2 ];  Zhou, D (Zhou, Dong)[ 1,2 ] 收藏  |  浏览/下载：127/0  |  提交时间：2019/01/03 CMOS active pixel sensor (APS)  SEE  Heavy ion   空间高能粒子对纳米器件栅介质可靠性影响的研究 学位论文 中国科学院新疆理化技术研究所: 中国科学院大学, 2018 作者:  马腾 收藏  |  浏览/下载：26/0  |  提交时间：2018/07/06 金属氧化物半导体  辐射效应  可靠性  辐射诱导泄漏电流  介质经时击穿