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NbSi TES Array and Readout: Development and Characterization 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON APPLIED SUPERCONDUCTIVITY, 2011, 卷号: 21, 期号: 3, 页码: 192-195
作者:  Pajot, F.;  Prele, D.;  Zhong, J.;  Atik, Y.;  Belier, B.
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