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科研机构
半导体研究所 [4]
内容类型
期刊论文 [4]
发表日期
2010 [2]
2006 [1]
2004 [1]
学科主题
光电子学 [4]
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学科主题:光电子学
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Structural and optical properties of Al1-xInxN epilayers on GaN template grown by metalorganic chemical vapor deposition
期刊论文
chinese physics b, 2010, 卷号: 19, 期号: 2, 页码: art. no. 026804
Lu GJ (Lu Guo-Jun)
;
Zhu JJ (Zhu Jian-Jun)
;
Jiang DS (Jiang De-Sheng)
;
Wang YT (Wang Yu-Tian)
;
Zhao DG (Zhao De-Gang)
;
Liu ZS (Liu Zong-Shun)
;
Zhang SM (Zhang Shu-Ming)
;
Yang H (Yang Hui)
收藏
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浏览/下载:110/2
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提交时间:2010/04/22
metalorganic chemical vapor deposition
Al1-xInxN
gradual variation in composition
optical reflectance spectra
X-RAY-DIFFRACTION
PHASE EPITAXY
RELAXATION
FILMS
HETEROSTRUCTURES
SEPARATION
DYNAMICS
ALLOYS
REGION
LAYERS
Effects of AlGaN layer parameter on ultraviolet response of n(+)-GaN/i-AlxGa1 (-) N-x/n(+)-GaN structure ultraviolet-infrared photodetector
期刊论文
acta physica sinica, 2010, 卷号: 59, 期号: 12, 页码: 8903-8909
作者:
Zhu JJ
;
Jiang DS
;
Zhao DG
;
Deng Y
;
Wu LL
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浏览/下载:54/2
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提交时间:2011/07/05
GaN
ultraviolet and infrared photodetector
quantum efficiency
SOLAR-BLIND
The effects of LT AlN buffer thickness on the properties of high Al composition AlGaN epilayers
期刊论文
materials letters, 2006, 卷号: 60, 期号: 29-30, 页码: 3693-3696
Wang XL (Wang X. L.)
;
Zhao DG (Zhao D. G.)
;
Li XY (Li X. Y.)
;
Gong HM (Gong H. M.)
;
Yang H (Yang H.)
;
Liang JW (Liang J. W.)
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浏览/下载:106/0
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提交时间:2010/04/11
AlGaN
LT AlN
TAXRD
dislocation
The influence of AlN buffer layer thickness on the properties of GaN epilayer
期刊论文
journal of crystal growth, 2004, 卷号: 268, 期号: 1-2, 页码: 24-29
作者:
Zhao DG
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提交时间:2010/03/09
buffer layer
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