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北京大学 [3]
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其他 [2]
期刊论文 [1]
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2009 [1]
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Impact of proton-radiation-induced spacer damage on the dc characteristics degradation in deep-submicron metal-oxide-semiconductor field effect transistors
期刊论文
应用物理杂志, 2009
Xue, Shoubin
;
Huang, Ru
;
Wang, Pengfei
;
Wang, Wenhua
;
Wu, Dake
;
Pei, Yunpeng
;
Zhang, Xing
收藏
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浏览/下载:2/0
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提交时间:2015/11/10
Investigations on Proton-Irradiation-Induced Spacer Damage in Deep-Submicron MOSFETs
其他
2008-01-01
Xue, Shoubin
;
Wang, Pengfei
;
Huang, Ru
;
Wu, Dake
;
Pei, Yunpeng
;
Wang, Wenhua
;
Zhang, Xing
收藏
  |  
浏览/下载:6/0
  |  
提交时间:2015/11/10
THIN GATE OXIDES
HEAVY-ION IRRADIATION
INDUCED LEAKAGE CURRENT
RELIABILITY DEGRADATION
CMOS TRANSISTORS
DEPENDENCE
BREAKDOWN
Investigations on Proton-Irradiation-Induced Spacer Damage in Deep-Submicron MOSFETs
其他
2008-01-01
Shoubin Xue
;
Pengfei Wang
;
Ru Huang
;
Dake Wu
;
Yunpeng Pei
;
Wenhua Wang
;
Xing Zhang
收藏
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浏览/下载:3/0
  |  
提交时间:2017/12/03
drain
irradiation
capture
defects
saturation
lager
proton
hardness
degraded
isolation
drain
irradiation
capture
defects
saturation
lager
proton
hardness
degraded
isolation
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