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科研机构
半导体研究所 [4]
内容类型
期刊论文 [3]
会议论文 [1]
发表日期
2004 [1]
2002 [1]
1998 [2]
学科主题
半导体材料 [4]
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学科主题:半导体材料
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Investigation of GaAs/AlGaAs interfaces by reflectance-difference spectroscopy
会议论文
10th international conference on defects - recognition, imaging and physics in semiconductors (drip 10), batz sur mer, france, sep 29-oct 02, 2003
作者:
Ye XL
;
Xu B
收藏
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浏览/下载:11/0
  |  
提交时间:2010/10/29
SHORT-PERIOD SUPERLATTICES
RAMAN-SCATTERING
QUANTUM-WELLS
GROWTH
ROUGHNESS
SEGREGATION
ALAS/GAAS
ALAS
GAAS
Investigation of GaN layer grown on Si(111) substrate using an ultrathin AlN wetting layer
期刊论文
journal of crystal growth, 2002, 卷号: 236, 期号: 1-3, 页码: 77-84
作者:
Han PD
收藏
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浏览/下载:74/5
  |  
提交时间:2010/08/12
substrates
heteroepitaxy
metalorganic chemical vapor deposition
gallium compounds
nitrides
INTERMEDIATE LAYER
EPITAXIAL-GROWTH
SILICON
SAPPHIRE
FILM
Triclinic deformation and anisotropic strain relaxation of an InAs film on a GaAs(001) substrate measured by a series of symmetric double crystal X-ray diffraction
期刊论文
journal of crystal growth, 1998, 卷号: 191, 期号: 4, 页码: 627-630
Wang HM
;
Zeng YP
;
Zhou HW
;
Kong MY
收藏
  |  
浏览/下载:52/0
  |  
提交时间:2010/08/12
MOLECULAR-BEAM EPITAXY
HALL ELEMENTS
GAAS
MISORIENTATION
DISTORTION
LAYERS
MBE
SI
HETEROSTRUCTURES
GROWTH
A study of the interface of CeO2/Si heterostructure grown by ion beam deposition
期刊论文
vacuum, 1998, 卷号: 51, 期号: 3, 页码: 397-401
Wu ZL
;
Huang DD
;
Yang XZ
收藏
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浏览/下载:37/0
  |  
提交时间:2010/08/12
X-RAY PHOTOELECTRON
EPITAXIAL-GROWTH
SILICON
SPECTROSCOPY
SURFACES
SI(111)
OXIDES
LAYERS
SI
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