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科研机构
光电技术研究所 [4]
内容类型
期刊论文 [4]
发表日期
2008 [4]
学科主题
光学薄膜技术 [4]
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Sensitivity analysis of laterally resolved free carrier absorption determination of electronic transport properties of silicon wafers
期刊论文
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 2008, 卷号: 103, 期号: 3, 页码: Art. No. 033709 FEB 1
Zhang, XR (Zhang, Xiren)
;
Li, BC (Li, Bincheng)
;
Gao, CM (Gao, Chunming)
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浏览/下载:15/0
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提交时间:2015/05/18
Time-domain modulated free-carrier absorption measurements of recombination process in silicon wafers
期刊论文
EUROPEAN PHYSICAL JOURNAL-SPECIAL TOPICS, 2008, 卷号: 153, 期号: 1, 页码: 275-277 JAN
Gao, C
;
Li, B
;
Zhang, X
收藏
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浏览/下载:18/0
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提交时间:2015/05/18
Analysis of free carrier absorption measurement of electronic transport properties of silicon wafers
期刊论文
EUROPEAN PHYSICAL JOURNAL-SPECIAL TOPICS, 2008, 卷号: 153, 期号: 1, 页码: 279-281 JAN
Zhang, X
;
Li, B
;
Gao, C
收藏
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浏览/下载:10/0
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提交时间:2015/05/18
Accuracy analysis for the determination of electronic transport properties of Si wafers using modulated free carrier absorption
期刊论文
Journal of Applied Physics, 2008, 卷号: 103, 期号: 104, 页码: 107305, 1-7
Xiren Zhang
;
Bincheng Li
;
Xianming Liu
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提交时间:2015/05/18
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