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科研机构
半导体研究所 [4]
内容类型
期刊论文 [3]
会议论文 [1]
发表日期
2002 [1]
2000 [1]
1998 [2]
学科主题
半导体材料 [4]
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学科主题:半导体材料
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GdxSi grown with mass-analyzed low energy dual ion beam epitaxy technique
期刊论文
journal of crystal growth, 2002, 卷号: 242, 期号: 3-4, 页码: 389-394
Zhou JP
;
Chen NF
;
Zhang FQ
;
Song SL
;
Chai CL
;
Yang SY
;
Liu ZK
;
Lin LY
收藏
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浏览/下载:54/0
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提交时间:2010/08/12
Auger electron spectroscopy
X-ray diffraction
X-ray photoelectron spectroscopy
ion beam epitaxy
semiconducting gadolinium silicide
SEMICONDUCTING SILICIDES
MAGNETIC SEMICONDUCTORS
TRANSITION
INSULATOR
SILICON
FILMS
Influence of substrate orientation on In0.5Ga0.5As/GaAs quantum dots grown by molecular beam epitaxy
会议论文
50th iumrs international conference on advanced materials, beijing, peoples r china, jun 13-18, 1999
作者:
Xu B
;
Ye XL
收藏
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浏览/下载:10/0
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提交时间:2010/11/15
quantum dots
high index
molecular beam epitaxy
photoluminescence
SURFACE SEGREGATION
ORIENTED GAAS
INGAAS
ISLANDS
WELLS
DISKS
Identification of induced reaction during XPS depth profile measurements of CeO2/Si films grown by ion beam epitaxy
期刊论文
vacuum, 1998, 卷号: 49, 期号: 2, 页码: 133-137
Wu Z
;
Huang D
;
Yang X
;
Wang J
;
Qin F
;
Zhang J
;
Yang Z
收藏
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浏览/下载:34/0
  |  
提交时间:2010/08/12
SPECTROSCOPY
ENERGY
A study of the interface of CeO2/Si heterostructure grown by ion beam deposition
期刊论文
vacuum, 1998, 卷号: 51, 期号: 3, 页码: 397-401
Wu ZL
;
Huang DD
;
Yang XZ
收藏
  |  
浏览/下载:37/0
  |  
提交时间:2010/08/12
X-RAY PHOTOELECTRON
EPITAXIAL-GROWTH
SILICON
SPECTROSCOPY
SURFACES
SI(111)
OXIDES
LAYERS
SI
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