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西安光学精密机械研究... [2]
内容类型
专利 [2]
发表日期
2021 [2]
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专题:西安光学精密机械研究所
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发表日期:2021
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一种干涉成像光谱仪探测器块效应校正方法
专利
专利号: CN202011109442.1, 申请日期: 2021-10-15, 公开日期: 2021-03-12
作者:
陈铁桥
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李思远
;
李海巍
;
王爽
;
刘学斌
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提交时间:2021/11/25
高通量高分辨率高对比度的偏振干涉光谱成像装置及方法
专利
专利号: CN202010322232.4, 申请日期: 2021-04-20, 公开日期: 2021-04-20
作者:
陈莎莎
;
魏儒义
;
王鹏冲
;
谢正茂
;
刘宏
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提交时间:2021/11/09
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