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一种高功率半导体激光器结构 专利
专利号: CN207218000U, 申请日期: 2018-04-10, 公开日期: 2018-04-10
作者:  韦欣;  徐建人
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一种测定四氟化硅气体中杂质磷、硼、砷含量的方法 专利
申请日期: 2018-01-01, 公开日期: 2018
作者:  唐安江;  张丹辉;  韦德举;  黄崇;  张妙鹤
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